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迈可诺技术有限公司

生物分子层中厚度检测方案(白光干涉测厚)

检测样品：其他

检测项：厚度

参考标准：

公司名称：迈可诺技术有限公司

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扫描型光学膜厚仪 FR-Scanner

检测仪器 FR-Scanner

进口纳米狭缝涂布机

前处理设备 nRad

美国Laurell匀胶机WS-650-23NPPB

前处理设备 WS-650-23NPPB

迈可诺技术有限公司

涂覆有热SiO2和SU-8膜的Si晶片中用白光反射光谱法（WLRS）测量厚膜的厚度均匀性检测方案(白光干涉测厚)

检测样品：电子元器件产品

检测项：用白光反射光谱法（WLRS）测量厚膜的厚度均匀性

参考标准：

公司名称：迈可诺技术有限公司

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FR-uProbe微米级薄膜表征

检测仪器 FFR-uProbe

进口纳米狭缝涂布机

前处理设备 nRad

美国Laurell匀胶机WS-650-23NPPB

前处理设备 WS-650-23NPPB

迈可诺技术有限公司

SiO2中Si膜表征检测方案(白光干涉测厚)

检测样品：电子元器件产品

检测项： Si膜表征

参考标准：

公司名称：迈可诺技术有限公司

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扫描型光学膜厚仪 FR-Scanner

检测仪器 FR-Scanner

进口纳米狭缝涂布机

前处理设备 nRad

美国Laurell匀胶机WS-650-23NPPB

前处理设备 WS-650-23NPPB

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