白光干涉测厚解决方案_白光干涉测厚仪应用方案-仪器信息网专场

金属薄膜和超薄薄膜中厚度测量检测方案(白光干涉测厚)

检测样品：其他

检测项：厚度测量

参考标准：

公司名称：迈可诺技术有限公司

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原装进口光学膜厚仪/薄膜测厚仪FR-pRo

检测仪器 FR-pRo

进口纳米狭缝涂布机

前处理设备 nRad

粉末压实密度仪手动4350 / 自动3887

前处理设备手动4350 / 自动3887

在线非接触式测厚仪中精确的非接触式在线PET薄膜厚度测量检测方案(白光干涉测厚)

检测样品：其他

检测项：精确的非接触式在线PET薄膜厚度测量

参考标准：

公司名称：迈可诺技术有限公司

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原装进口光学膜厚仪/薄膜测厚仪FR-pRo

检测仪器 FR-pRo

进口纳米狭缝涂布机

前处理设备 nRad

钙钛矿太阳能电池Laurell匀胶机

检测仪器 WS-650Mz-23N

生物分子层中厚度检测方案(白光干涉测厚)

检测样品：其他

检测项：厚度

参考标准：

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扫描型光学膜厚仪 FR-Scanner

检测仪器 FR-Scanner

进口纳米狭缝涂布机

前处理设备 nRad

美国Laurell匀胶机WS-650-23NPPB

前处理设备 WS-650-23NPPB

悬浮式活性硅中用于MEMS应用的悬浮式活性硅膜厚度测量检测方案(白光干涉测厚)

检测样品：其他

检测项：用于MEMS应用的悬浮式活性硅膜厚度测量

参考标准：

公司名称：迈可诺技术有限公司

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扫描型光学膜厚仪 FR-Scanner

检测仪器 FR-Scanner

进口纳米狭缝涂布机

前处理设备 nRad

美国Laurell湿法刻蚀显影机EDC-650Mz-23NPP

前处理设备 EDC-650Mz-23NPP

眼镜中FR便携式眼镜涂层的表征检测方案(白光干涉测厚)

检测样品：眼镜

检测项： FR便携式眼镜涂层的表征

参考标准：

公司名称：迈可诺技术有限公司

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原装进口光学膜厚仪/薄膜测厚仪FR-pRo

检测仪器 FR-pRo

进口纳米狭缝涂布机

前处理设备 nRad

Inspex HD 1080p数码显微镜

检测仪器 Inspex HD 1080p

光致抗蚀剂中实时监控由于环境光暴露引起的光刻胶膜的光谱灵敏度检测方案(白光干涉测厚)

检测样品：其他

检测项：实时监控由于环境光暴露引起的光刻胶膜的光谱灵敏度

参考标准：

公司名称：迈可诺技术有限公司

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原装进口光学膜厚仪/薄膜测厚仪FR-pRo

检测仪器 FR-pRo

进口纳米狭缝涂布机

前处理设备 nRad

原装进口高精密度热板/加热台/烤胶机

前处理设备 HP 1000-1/HP 1000-3/ HP 1000 HT/ HP 1200

聚合物薄膜中聚合物薄膜的玻璃化转变温度的测量检测方案(白光干涉测厚)

检测样品：电子元器件产品

检测项：聚合物薄膜的玻璃化转变温度的测量

参考标准：

公司名称：迈可诺技术有限公司

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扫描型光学膜厚仪 FR-Scanner

检测仪器 FR-Scanner

进口纳米狭缝涂布机

前处理设备 nRad

多功能桌面式ALD原子层沉积系统AT610

前处理设备 AT610

薄膜叠层中薄膜叠层厚度检测方案(白光干涉测厚)

检测样品：电子元器件产品

检测项：薄膜叠层厚度

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公司名称：迈可诺技术有限公司

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扫描型光学膜厚仪 FR-Scanner

检测仪器 FR-Scanner

进口纳米狭缝涂布机

前处理设备 nRad

美国Laurell湿法刻蚀显影机EDC-650Mz-8NPP

前处理设备 EDC-650Mz-8NPP

SiO2中Si膜表征检测方案(白光干涉测厚)

检测样品：电子元器件产品

检测项： Si膜表征

参考标准：

公司名称：迈可诺技术有限公司

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扫描型光学膜厚仪 FR-Scanner

检测仪器 FR-Scanner

进口纳米狭缝涂布机

前处理设备 nRad

美国Laurell匀胶机WS-650-23NPPB

前处理设备 WS-650-23NPPB

汽车涂料中划痕试验分析检测方案(纳米压痕仪)

检测样品：车身及附件

检测项：涂层和镀层性能

参考标准：

公司名称：艾泰克仪器科技（南京）有限公司

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微纳米压痕仪/划痕仪

检测仪器 SMT-5000

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共聚焦三维表面轮廓仪

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