仪器简介：
集天瑞多年贵金属检测技术的经验，EDX600B使用高效而实用的正比计数盒探测器，以满足贵金属的成分测试和镀层厚度测量的要求。二维的软件控制移动平台和激光定位装置，使样品上测试点的选择更方便和准确；功能齐全的测试软件、友好的操作界面，使测试工作轻松完成。
技术参数：
元素分析范围：从钾（K）到铀（U）
测量对象：固体、液体、粉末
测量精度:0.05%
分析检出限：可达1ppm
分析含量：一般为1ppm－99.9％
多次测量重复性：0.1％
长期工作稳定性：0.1％
温度适应范围：15℃－30℃
测量湿度：≤70％
测量时间：60－300秒
电源：交流220V±5V(建议配置交流净化稳压电源)
主要特点：
专业贵金属检测、镀层厚度检测
内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍以上
一次可同时分析24个元素
针对不同样品可自动切换准直器
智能贵金属检测软件，与仪器硬件相得益彰
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回收程序
