仪器种类: 台式/落地式能量色散型X荧光光谱、XRF
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主要技术特点
对材料的结构和组成进行非破坏性的微区多元素分析,分析元素范围11Na-92U,空间分辨率达到70微米。
第四代XFlash®SDD硅漂移探测器,采用帕尔贴冷却技术, 不需要液氮,没有任何消耗。分辨率优于165eV at MnKa 100Kcps。优于145eV分辨率探测器可选。
灵活的设计,样品检验时可以不受空间、样品尺寸限制。X-Y-Z 三维自动定位跟踪样品台,防碰撞保护,可以自动完成点、线、面扫描功能。
配有各种靶材的低功率X射线光管、CCD相机、微聚焦多孔毛细管镜、XYZ样品台、激光定位系统。
微聚焦多孔毛细管镜与准直管相比强度提高1000倍以上。
根据应用要求不同,可提供多种配置。
应用:文物保护、文物修复、考古、艺术品、笔迹鉴定、书画、刑侦、材料研究、电子、汽车、航空航天等领域。
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