OVA光矢量分析仪Luna/1546.7nm OBR背光反射计O C L波段2000m测量

二,光矢量分析仪 Luna OVA 5000/5100 (C、O和L波段 损耗、色散和偏振测量仪)

Luna OVA 5000是用于现代光网络设备的损耗、色散和偏振测量的快、准确、经济的工具。它是单连接、全参数表征光纤组件的理想设备，从耦合器到特种光纤，以及介于两者之间的一切（光纤布拉格光栅、阵列波导光栅、自由空间滤波器、可调谐器件、放大器等），所有这些只需要可调谐激光器的一次扫描.

Luna Innovations正在推出OVA 5100产品，包括用于C和L波段的OVA 5100型号，以及用于O波段操作的OVA 5113。OVA 5100是具有同等功能和性能的OVA 5000系统的直接替代品。除了提供更便携的外形外，OVA 5100还代表了Luna对质量的承诺，并持续提供光学矢量分析仪（OVA）的不一样功能。

•对长度不超过150 m的设备进行单次测量、全参数分析

•在不到3秒的时间内对无源器件进行quan面表征

•完全偏振响应

•单次扫描，同时测量完整的参数范围

--插入损耗（IL）

--偏振相关损耗

--偏振模色散（PMD）和二阶PMD

--色散（CD）

--组延迟（GD）

--光时域响应

--Jones矩阵元素

--光学相位响应

•高分辨率C和L波段（OVA 5000）或O波段（OVA 5013）能力

•实时测量

•用户友好界面

•分析平面光电路和硅光子器件

•表征光纤组件

•测量频谱响应和时延响应

•通过完整的传递函数改进设备模拟和模型

OVA 5100–OVA 5000的新外壳和名称

Luna OVA 5100本质上是一款OVA 5000，封装尺寸较小，并进行了一些内部更新，以提高其可制造性和长期可支持性。

在功能上，OVA 5100/5113系统是OVA 5000/5013的替代品，具有同等的功能、规格、功能和软件。

OVA 5000/5013的所有选项均适用于OVA 5100/5113，零件号不变。重要可能影响系统与客户应用程序集成的变化将是系统的物理尺寸和重量的减少。

维护OVA 5000和OVA 5013

OVA 5000和OVA 5013型号已进入维护模式，这意味着Luna将继续全力支持和服务这些系统，并遵守产品保修。

通过1次扫描，OVA 5000可以同时测量光子器件和子系统的完整传递函数。此屏幕显示IL和组延迟与波长的关系。

1.快速模式：无平均校准扫描，4次平均测量扫描，30 pm分辨率带宽，8 m设备长度（使用NIST认证的人工制品验证精度，IL除外）。高动态范围选项已启用。

2.平均模式：4次平均校准扫描，64次平均测量扫描，30 pm分辨率带宽，8 m设备长度（使用NIST认证的人工制品验证精度，IL除外）。高动态范围选项已启用。

3.由NIST内部可追踪的HCN气室保持精度。

IL、GD和PMD在“平均模式”下的4.80、60和50 dB动态范围已安装并启用“高动态范围”选项。

5.指出可以捕获的总设备脉冲响应持续时间。

6.根据每次扫描的组合激光扫描和分析时间计算的速率。

7.在快速模式（Fast Mode）：40 nm范围和平均模式（Average Mode）：2.5 nm范围内进行全规格测量（见注释4）。不包括校准时间。

单次扫描中的完整特征

OVA 5000quan面分析集成光子器件和子系统的光学特性，提供quan面的表征

一次扫描和一次连接。OVA 5000使用干涉测量法直接测量线性传递函数（Jones矩阵），并同时测量其在每个波长下的四个复数元素。根据该数据，

所有标准线性参数测量，包括IL、RL、GD、CD、PMD和PDL，都可以以z高的动态范围和可用的精度进行提取。

其结果是实现了极其快速、高分辨率和精确的器件表征，是硅光子学和其他集成光子学器件的理想选择。

高分辨率“零死区”反射计

OVA 5000还可以作为具有光学频域反射计（OFDR）选项的高分辨率反射计进行操作。具有OFDR选项的OVA 5000可提供20μm采样分辨率、“零死区”和高灵敏度（>95 dB）的反射计测量。使用此选项，您可以轻松

“向内看”微型光子器件，并在波导内通常发生的规模上区分反射事件和杂质。

完全偏振分析

通过可选的偏振分析软件插件，OVA 5000可以测量、计算和显示光学组件对模拟输入偏振态的响应，从而消除了偏振对准的繁琐和困难任务。该软件显示插入损耗、群延迟和对用户定义的输入极化状态的脉冲响应。易于使用的滑块允许用户将模拟输入偏振调整到任何所需状态。anlaysis软件还绘制了偏振主态（PSP）的Min. 和Max. 插入损耗、群延迟和色散，以及偏振平均量（IL、GD、CD等），

PMD、PDL、Jones矩阵元素和时域信息。

使用单一仪器进行quan面表征

OVA 5000是业界重要一款通过单次连接和单次高速测量扫描测量光学组件完整光谱和时间延迟响应的仪器。OVA 5000简化了测试设置，缩短了测试时间

通过将多个光学仪器和组件的功能集成到单个仪器中。

用单个OVA 5000替换所有这些仪器。

型号说明

三,OBR 4600背光反射计 O、C和L波段 (2000m测量长度 10um空间分辨率 适用实验室)

光学后向散射反射仪(Optical Backscatter Reflectometer) Luna OBR 4600是Luna屡获殊荣的光学后向反射仪TM产品线的一部分。OBR 4600专为组件和短期网络测试和故障排除而设计，可实现具有反向散射水平灵敏度的超高分辨率反射计。OBR 4600具有低至10微米的采样分辨率、零死区、极低的噪声基底，以及扩展范围和分布式温度和应变传感的选项，提供了行业优秀的反射计技术，使您能够所未有地“看到”您的组件和系统内部。

•“Zero Dead Zone零死区”反射计

•以10μm采样分辨率测量30 m

•80 dB动态范围

•后向散射级灵敏度（-130 dB）

•高速扫描（1 m段，z高3 Hz）

•增程提供2公里无死区的续航里程

•测量IL、RL、分布损耗、距离、极化状态、相位导数和群延迟

•高分辨率C和L波段（OBR 4600）或O波段（OBR-4613）能力

方便地定位及诊断光纤的弯折、熔接、连接头及断裂等各类故障

定位各点的插损,对小型化组件所未有的可见性

轻松定位、识别和排除宏观弯曲、拼接、连接器和断裂,深入期间内部，评估每个接口的RL和IL,将IL点定位在网络或组件中的每个点上——消除削减(assembly – eliminate cutbacks)

7秒内以10微米的分辨率完成30米的测量

以3Hz的频率连续测量1米的范围

可测试并定位2千米的光纤网络故障

光纤组件的自动检验

器件或模块内温度及应力的监测

光纤或无源器件的故障定位

光纤温度传感、光纤应力传感

型号对比

点扫描模式

点扫描模式允许扫描被测设备的任何1米或2米区域，从而缩短测量时间和更小的数据文件。下表中的速率用于以100nm/s的激光调谐速度进行的测量。

示例应用

硅光子器件构建在硅光子平台上，代表了一种高水平的功能，可小型化为极高的封装密度。OBR 4600的高空间分辨率和高灵敏度提供了以非常高的细节水平查看设备内部的能力。

例如，UCSB的光电子研究小组在硅平台上制造了一条一米长的螺旋延迟线。OBR 4600用于测量光子集成电路（PIC）内部的分布损耗，该电路的尺寸仅为1cm2。

波导的水平部分在螺旋上的扫描如左下图所示。波导交叉点间隔仅50微米，清晰可见。

1米的螺旋波导显示在扫描波导中，与下面的螺旋环交叉。右图清楚地显示了一米螺旋上的分布损耗，包括水平波导交叉处的散射。

OBR 4600背光反射计参数表

所有参数适用于单模光纤。
对于多模光纤，参数仅为名义值
1. 在整个长度内。
2. 名义范围。
3. 精度由内置的、NIST可追溯的HCN气室来保证。
4. 对于2千米的选项，回损动态范围是60dB。
5. 这个插损动态范围是在标准的单模光纤散射水平（~-100dB/mm）低于背景噪声（~-118dB/mm）前的单程损耗。

分布式传感

分布式传感作为一种选择，允许您使用OBR 4600通过分析标准现成光纤固有的瑞利散射来检测和监测连续应变和温度，用户指出的空间分辨率低至0.32毫米。或者，Luna ODiSI平台针对传感应用进行了优化，并提供易于使用的，可重复和稳健的传感器测量解决方案。具有分布式传感选项的OBR 4600在需要额外灵活性和定制的专业或研究应用中te别有用。

型号说明