日本理学Rigaku 顺序型波长色散X射线荧光光谱仪ZSX Primus 400
日本理学Rigaku 顺序型波长色散X射线荧光光谱仪ZSX Primus 400

¥300万 - 600万

暂无评分

日本理学

暂无样本

ZSX Primus 400

--

亚洲

  • 银牌
  • 第17年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
核心参数

仪器种类: 扫描型

产地类别: 进口

仪器类型: 落地式

X射线光管功率: 4KW

分析元素种类: 4Be-92U

  • 元素范围: ppm 至 %
  • 分析范围: Be - U
  • 测量点: 30 毫米至 0.5 毫米直径,5步自动

产品描述

连续波长色散X射线荧光光谱仪

Rigaku 独特的 ZSX Primus 400 连续波长色散 X 射线荧光 (WDXRF) 光谱仪专为处理非常大或重的样品而设计。该系统可接受直径最大为 400 毫米、厚度为 50 毫米和质量为 30 千克的样品,非常适合分析溅射靶材、磁盘,或用于多层薄膜计量或大型样品的元素分析。

优点

带有定制样品适配器系统的 XRF,适应特定样品分析需求的多功能性,可使用可选适配器插件适应各种样品尺寸和形状。凭借可变测量点(直径 30 毫米至 0.5 毫米,具有 5 步自动选择)和具有多点测量的映射功能以检查样品均匀性

具有可用相机和特殊照明的 XRF,可选的实时摄像头允许在软件中查看分析区域。

仍保留了传统仪器的所有分析能力。

应用领域

固体、液体、粉末、合金和薄膜的元素分析:

溅射靶材组成.

隔离膜:SiO2BPSGPSGAsSGSi₃N₄SiOFSiON等。

 k 和铁电介质薄膜:PZTBSTSBTTa2O5HfSiOx

金属薄膜:Al-Cu-SiWTiWCoTiNTaNTa-AlIrPtRuAuNi等。

电极膜:掺杂多晶硅(掺杂剂:BNOPAs)、非晶硅WSixPt等。

其他掺杂薄膜(AsP)、困惰性气体(NeArKr等)、CDLC

铁电薄膜、FRAMMRAMGMRTMRPCMGSTGeTe

焊料凸点成分SnAgSnAgCuNi

MEMSZnOAlNPZT的厚度和成分

SAW器件工艺AlNZnOZnSSiO 2(压电薄膜)的厚度和成分;AlAlCuAlScAlTi(电极膜)


■ 技术参数

大样本分析最大 400 毫米(直径)最大 50 毫米(厚度)高达 30 千克(质量)

样品适配器系统适用于各种样本量

测量点30 毫米至 0.5 毫米直径5步自动选择

映射能力允许多点测量

样品视图相机(可选

分析范围Be - U

元素范围:ppm  %

厚度范围:sub Å  mm

衍射干扰抑制(可选单晶衬底的准确结果

符合行业标准SEMICE标志

占地面积小以前型号的 50% 占地面积


售后服务承诺

保修期: 1年

是否可延长保修期:

现场技术咨询:

免费培训: 1次

免费仪器保养: 详谈

保内维修承诺: 保内免费维修

报修承诺: 48小时抵达现场

用户评论
暂无评论
问商家

日本理学波散型XRFZSX Primus 400的工作原理介绍

波散型XRFZSX Primus 400的使用方法?

日本理学ZSX Primus 400多少钱一台?

波散型XRFZSX Primus 400可以检测什么?

波散型XRFZSX Primus 400使用的注意事项?

日本理学ZSX Primus 400的说明书有吗?

日本理学波散型XRFZSX Primus 400的操作规程有吗?

日本理学波散型XRFZSX Primus 400报价含票含运吗?

日本理学ZSX Primus 400有现货吗?

日本理学Rigaku 顺序型波长色散X射线荧光光谱仪ZSX Primus 400信息由深圳华普通用科技有限公司为您提供,如您想了解更多关于日本理学Rigaku 顺序型波长色散X射线荧光光谱仪ZSX Primus 400报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
移动端

仪器信息网App

返回顶部
仪器对比

最多添加5台