一六仪器XAU-4C专精多功能XRF

XAU-4C是一款设计结构紧凑，模块精密化程度高的光谱分析仪，采用了下照式C型腔体设计，是一款一机多用型光谱仪。

应用核心EFP算法和微光聚集技术，既保留了专用测厚仪检测微小样品和凹槽的性能，又可满足微区RoHS检测及成分分析。

被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。

微小样品检测：最小测量面积0.03mm2（加长测量时间可小至0.01mm2）

• 变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm

• 自主研发的EFP算法：Li（3）-U（92）元素的涂镀层，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也可准确测量

• 先进的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限

• 高性能探测器：SDD硅漂移窗口面积25/50mm2探测器

• 光路系统：微焦加强型射线管搭配聚集

• 多准直器自动切换

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1. 成分分析范围：铝（Al）- 铀（U）

2. 成分检出限：1ppm

3. 涂镀层分析范围：锂（Li）- 铀（U）

4. 涂镀层检出限：0.005μm

5. 测量直径小至□0.1*0.3mm（测量面积小至0.03mm2）

    标配：测量直径小至0.3mm（测量面积小至0.07mm2）

6. 对焦距离：0-30mm

7. 样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm

8. 仪器尺寸：550mm*480mm*470mm

9. 仪器重量：45KG

10. XY轴工作台移动范围：50mm*50mm

11. XY轴工作台承重：5KG

广泛应用于半导体行业、新能源行业、5G通讯、五金建材、航空航天、环保行业、汽车行业、贵金属检测、精密电子、电镀行业等多种领域

选择一六仪器的四大理由：

1.一机多用，无损检测（涂镀层检测-环保RoHS-成分分析）

2.测量面积小至0.002mm2

3.可检测凹槽0-30mm的异形件

4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测