Windows 10 升级
Windows 10升级延长了现有纳米压痕仪®G200系统的使用寿命和可维护性 ，并增加了新的特性和功能。 高性能硬件与NanoSuite 7.0控制软件相结合以保持现有数据和测试方法，同时继续与您当前的选件和许可证兼容。 此次升级还包括分析数据报告软件（Analyst）和TeamViewer远程支持软件，使KLA支持工程师能够快速排除故障并解决问题，无论系统位于何处。
XP作动器
G200纳米力学测试系统由线性度最好的电磁力传感器，以确保精确测量。传感器的独特设计避免了横向移位的影响。 标准XP压痕组元的加载能力为500mN，位移分辨率<0.01nm（10pm），最大压痕深度>500μm。
动态接触模块II（DCM II）压痕组元
DCM II将最大载荷扩展到30mN，并以0.2pm的位移分辨率提供70μm的压头行程。 压头更换设计用于快速拆卸和轻松安装各种特定应用的压头。 使用DCM II选项，研究人员不仅可以研究材料表面最初的几个纳米压痕，还可以研究接触之前时期的力学行为。
连续刚度测量（CSM）
连续刚度测量（CSM）技术与XP和DCM II压痕头兼容，满足必须考虑动态效应的应用要求，如应变速率和频率。 CSM选件包括ProbeDMA™聚合物方法包和AccuFilm™薄膜方法包。 ProbeDMA™聚合物方法包提供了一种分离载荷-位移历史的同相位和异相位分量的方法。 相位分离能够精准确定初始表面接触的位置，并连续测量作为深度或频率函数的接触刚度，无需卸载循环。 AccuFilm™薄膜方法包可以测量与衬底无关的材料属性。
Express Test
快速测试选件是进行高精度纳米力学测试的一种新颖、快速的方法。 作为全球R&D科技研发奖的获得者，快速测试选件可实现每秒完成一个压痕，这意味着在100秒内可以在100个不同的位置执行100次压痕。 快速测试选件与所有纳米压痕仪G200 DCM II和XP作动器及所有样品台兼容。 功能多样、易于操作的快速测试方法非常适合涉及金属、玻璃、陶瓷、结构聚合物、薄膜和低介电材料的应用。 用于薄膜测量的快速测试方法中包括一种薄膜模型，该模型可自动计算衬底对测量的影响，从而快速、准确地测量出杨氏模量。
激光加热压头和样品台
与标准XP作动器兼容，G200纳米力学测试系统的激光加热压头和样品台选件使用高功率二极管激光器分别将压头和样品加热到相同的温度。 优点包括能够在精确控制的温度或在高度动态的温度条件下测量各种纳米力学性能。 为确保数据准确，该系统通过使用加热压头和激光作为加热源（非电阻加热）将与加热相关的漂移降至最低。 G200还为用户提供了使用各种气体净化样品的选件，以避免污染和氧化。
横向力测量（LFM）
横向力测量（LFM）选件为划痕测试、磨损测试和微机电系统（MEMS）探测提供三维定量分析。 该选件允许X和Y方向的剪切力测量。 摩擦学研究大大受益于LFM选件，用于确定划痕长度上的临界载荷和摩擦系数。
高载荷
高载荷选件用于标准XP作动器，将 G200纳米力学测试系统的负载能力扩展至10N，可对陶瓷、块状金属和复合材料进行完整的力学性能表征。 高载荷选件旨在避免在小载荷时牺牲仪器的载荷和位移分辨率，并在需要额外力的时候在测试协议中完美接合。
NanoVision
NanoVision选件配备了用于高分辨3D成像法和能精确定位的闭环纳米定位样品台。 NanoVision允许用户以纳米级精度定位压痕测试的位置，并表征多相/复合材料的不同物相的力学性能。 NanoVision用户还可以通过检查残余压痕形貌来量化材料响应现象，如突起高度、变形体积和断裂韧性等。
Survey Scanning
Survey Scanning选件利用G200纳米力学测试系统的精确、可重复的X/Y运动可提供500μm×500μm的最大扫描尺寸。 NanoVision样品台和Survey Scanning选项可配合使用，实现纳米压痕测试的精确定位，这对于确定样品断裂韧性尤其有用。
NanoSuite ®软件版本
所有Nano Indenter G200系统均由标准的NanoSuite Professional软件驱动。 NanoSuite Professional版本为用户提供了预先编写的测试方法，包括符合ISO 14577的方法和从薄膜材料样品去除基底效应的方法。 NanoSuite Explorer版本使研究人员能够使用简单的协议编写自己的NanoSuite方法。 通过NanoSuite Professional和NanoSuite Explorer软件提供的模拟模式，用户可以离线编写测试方法、处理和分析数据。
