QCM-D 耗散型石英晶体分析仪
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QCM-D 耗散型石英晶体分析仪

¥75万

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AWSensors

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X4

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欧洲

核心参数

产地类别: 进口

最小样品体积: 最小定量体积:50 μL

温度范围: 15-45 °C

频率范围: 4-160 MHz(对于10 MHz芯片,从基频10 MHz到13倍频130 MHz)

产品名称:QCM-D耗散型石英晶体分析仪

产品型号:AWS X4 

X4系列耗散型石英晶体分析仪基于专利的QCM-D技术,可精确测量石英芯片表面质量和结构变化,提供实时的表面相互作用信息,如吸脱附过程、分子相互作用、蛋白质构象变化等.

QCM-D技术基于声波在石英芯片本体和表面传播的性质变化,精确测量芯片表面吸附膜质量和结构变化。 当芯片表面发生吸脱附反应时,表面波的频率和振幅将发生变化。

                                               1.png

当吸脱附反应发生在芯片表面时,表面波的频率和振幅将发生变化。当吸附膜为刚性膜时,频率变化正比于质量变化,根据Sauerbrey方程可计算出吸附膜质量

2.jpg

吸附膜为柔性膜时,通过测量频率耗散可获得膜的构象变化。通过倍频测量频率和耗散可拟合得到具体的粘弹性信息

3.png

AWS X1耗散型石英晶体分析仪在倍频下同时监控频率和耗散变化,可以给出吸附膜的质量、粘度、弹性模量、粘性模量和厚度等信息。结合常规QCM芯片、高频QCM芯片和叉指传感器芯片,可精确检测声波在石英本体表面的传播变化,提高测试的可靠性。


 


售后服务承诺

保修期: 1年

是否可延长保修期:

现场技术咨询:

免费培训: 客户现场免费培训

免费仪器保养: 3月1次

保内维修承诺: 免费更换维修部件

报修承诺: 2销售相应,48小时给出维修方案

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