BA-100 X射线荧光镀层测厚仪

美国博曼（Bowman）BA-100 台式X射线荧光（XRF）镀层测厚仪-为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析，以及电镀液分析。

美国博曼（Bowman）分析仪器即使在客户遇到最严格的测试要求时也能够实现快速、方便、高效的XRF分析效果。

智能的紧凑式设计使得分析各种各样的应用变得更方便，在合理的价格范围内显著提升您的镀层产品质量控制。

性能与可操作性的最优化
紧凑式设计，改善效率和精度
高分辨半导体固态探测器（Si-Pin），提高稳定性和灵敏度
更短的预热时间，开机5分钟内即可测量产品，更长寿命的光管
4种规格：0、0.1、0.5、1mm的一次滤波器

可配:

单准直器（型号：BA-100-B-SFF）

多准直器（型号：BA-100-B-MFF）

可变焦多准直器（型号：BA-100-B-MVF）
可变焦距6.3--12.5-25.5-38mm，以适应复杂样品的测量需求
模块化设计，方便维修、维护

简单的设计、强大的分析能力
快速、无损的分析
可测Ti22-U92元素

同时可最多分析5层镀层（4层镀层+基材层）

成份分析最多可达25种元素
基于基本参数法的镀层和成份分析方法
仅需一根USB线与电脑连接
快捷的面板控制按钮
占用空间小、轻量化设计

直观的用户界面
最大的分析灵活性，减少用户出错机会
基于Net framework框架的Xralizer软件
直观的图标引导用户界面
强大的定性、无标样分析功能
功能强大的标准片库
用于快速分析的可定制快捷键
灵活的数据显示与导出
强大的报告编辑生成器