UVM10 -UV光束质量分析仪

UVM10 紫外光束质量分析仪

 metrolux激光光束分析仪可测量激光强度分布，范围包括EUV，UV，VIS和NIR，光斑直径从1μm - 100 mm，可按EN-ISO标准记录和分析光束。

    具有适合于分析光斑和光束位置以及用于均匀激光光束特点描述的各种软件工具，可选附件便于协调脉冲激光器和单脉冲的测量。

    机械部分采用特殊表面细化、光学部分采用光学增透膜把杂散光减小到最小的优化探测头。

    VIS/NIR激光光束分析仪 UV激光光束分析仪

    基于激光光束分析仪的“光束检测”的CCD相机，被优化适合于低输出功率的连续和脉冲激光器准直光束分析，大部分VIS/NIR波长范围的激光，可用此系统典型分析，例如Nd:YAG或者半导体激光器通常使用此系统分析。

    光束质量分析仪包含Beamlux II软件、标准摄像头及附件如中性密度滤光片组合和可快速建立测量的设备，使用这些可选配件，系统也可用于高功率激光束和焦点直径小于10μm的测量。

产品参数 ：

可用的UV转换窗口片： K2、K6、k7、K8

波长：                           1 - 360 nm

转换器：                         可选

功率：                             <10W

传感器类型：                 CCD2/3"

软件：                           Beamlux II高级版

光束类型：                    原始发散光

光斑大小：                   <56X44mm2

能量密度：                  <50mJ/cm2

接口：                        IEEE1394

工作距离：                 取决于转换窗口片

可选型号：

UVM10-S ：   探测面积 12 x 9 mm2
UVM10-M：   探测面积23 x 17 mm2
UVM10-L：    探测面积30 x 25 mm2
UVM10-XL：   探测面积 44 x 33 mm2
UVM10-XXL ： 探测面积50 x 40 mm2

不同的型号尺寸有差别，其他大小探测器面积请咨询我们！

产品应用：光斑大小、发散角、近场、远场、光束指向稳定性、功率、均匀性

转换窗口片：

 窗扣片的功能为把紫外光和红外光转换为可见光进入光束质量分析仪进行分析，材料转换指标如下：

                                                                              窗口片材料

                                                                           可选尺寸

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