该仪器适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
主要性能指标：
※ 波长范围及峰值波长：UV－340探头：λ：(315～370)nm；λP＝340nm
※ 辐照度测量范围：(0.1～199.9×103)μW/cm2
※ 紫外带外区杂光：UV340：小于0.05％
※ 余弦特性：符合国家二级光照度标准
※ 示值相对误差：±10％
※ 响应时间：1秒
※ 使用环境：温度(0~40)℃；湿度＜85％RH
※ 尺寸和重量：180mm×80mm×36mm；0.2kg
※ 电源：9V积层电池（6F22型）一只
