理学组合型多功能水平X射线衍射仪Ultima Ⅳ

光学系统调整自动化——大幅缩短简化了切换光学系统所需的时间和程序，提高整体效率；

CBO技术具有高度灵活性——应用于所有粉末·多晶材料评价

样品位置自动调整，和In-Plane测试相结合——高分辨率的应力·选择取向测试简便化

CBO技术和无需変更系统的In-Plane扫描——实现最强的薄膜评价系统

新开发的In-situ——可以在特殊条件下测试

利用CBO和自动调整装置，仅添加附件即可对纳米材料小角散射测试

主要的应用有：
1. 粉末样品的物相定性与定量分析
2. 计算结晶化度、晶粒大小
3. 确定晶系、晶粒大小与畸变
4. Rietveld结构分析
5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度
6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构
7. 小角散射与纳米材料粒径分布
8. 微区样品的分析