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XRSIM是由美国Iowa州立大学无损检测中心研制的X射线无损检测模拟软件。软件研制过程历经23年, 其用户包括美国Los Alamos国家实验室、Sandia国家实验室、NASA、美国国家科学基金会、美国诺尔原子能实验室,美国陆军、空军及其它国防工业部门; 跨国大公司有如美国铝业,达信航空航天,劳斯莱斯,普拉特惠特尼、波音、Cessna、ATK公司等,以及荷兰、韩国、印度、比利时等国家的实验室、科研院所、无损检测教学单位及相关企业。
快速的射线检测模拟。软件在个人电脑上就可以以较快的速度运行,也不需要优越的工作环境。如图所示,XRSIM的主要组成部分包括:绿色的CAD图,根据CAD信息得到的彩色的厚度图,射线检测模拟的灰度图以及参数设置主菜单和子菜单。
应用领域:
? 射线源(靶、窗口、能量范围,……)
? X射线与物质的相互作用(衰减定律,康普顿散射,电子对效应)
? 工件和缺陷(Stl文件)
? 探测器(吸收剂量,胶片/ 非晶硅,图像增强器,……)
? 建模是基于基本的物理规律
? 速度快
? 开放式的用户接口
? 可模拟最多由20个零件组装的产品,每个零件最多可植入4个缺陷
? 对计算机硬件要求低
? 节约胶片或探测器
? 节约时间(人工+机时)
? 透照方向分析
? 检测分辨力分析
? 优化检测工艺或参数
? 加快预研项目进程(prototype)
? 检测覆盖率分析
? 教育培训
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Mr.He
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