Leica EM RES102多功能离子减薄仪(已停产)
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¥100万 - 150万

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徕卡

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Leica EM RES102

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欧洲

  • 银牌
  • 第12年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
核心参数

最大样品尺寸: 直径25mm,高度12mm

减薄角度: 0°-90°

离子能量: 0.8keV-10keV

多功能离子减薄仪EM RES102

Leica EM RES102 通过离子枪激发获得离子束,以一定入射角度对样品进行轰击,以去除样品表面原子,从而实现对样品的离子束加工。

Leica EM RES102主要功能为:对无机薄片样品进行离子减薄,使得薄片样品可被透射电子穿过,从而适宜TEM透射电子显微镜观察;对无机块状样品进行离子束抛光、离子束刻蚀,样品表面离子清洗及斜坡切割,便于SEM扫描电子显微镜观察样品内部结构信息。

* 具有2把离子枪,离子束能量为0.8keV-10keV,相对位置,可分别±45°倾斜,样品台倾斜角度-120°至 210°,离子束加工角度0°至90°,样品平面摆动角度<360°,    垂直摆动距离±5mm。实际操作参数根据具体应用需要选择(系统备有参考参数,也可自行设置参数并存储)
* 可选配样品台:TEM样品台(?3.0mm或?2.3mm),FIB样品清洗台,SEM样品台,斜坡切割样品台(对样品35°或90°斜坡切割)等
* SEM样品台可容纳最大样品尺寸:直径25mm,高度12mm
* 全无油真空系统,样品室带有预抽室,保证样品交换时间<1分钟

* 全电脑控制,触摸屏操作界面,内置视频观察系统,可实时观察样品处理过程


售后服务承诺

保修期: 1年

是否可延长保修期:

现场技术咨询:

免费培训: 面议

免费仪器保养: 面议

保内维修承诺: 面议

报修承诺: 面议

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