能量色散X荧光光谱仪

产品名称：CIT-3000SM能量色散X荧光分析仪
产品说明、技术参数及配置
CIT-3000SM能量色散X荧光分析仪，是先达公司2003年推出的达到世界先进水平、国内领先水平的全元素分析仪器，当年被科技部、质监总局、税务总局等五部委联合批准为“国家重点新产品”，同时被国家列入十五、十一五重点推广的科技项目。该仪器利用低能X光管进行激发，采用了国外最先进的半导体电制冷探测器进行探测，数字化谱分析技术，2048道多道脉冲分析器对射线光谱进行精细分析，一次性可以完成20多种元素的快速、准确分析。
适用范围
钢铁行业：生铁、炉渣、矿石、烧结矿、球团矿、铁精粉、铁矿石等各种成份分析；
耐火材料：各类样品成份分析；
有色行业：铝厂各类样品、铅锌矿、铜矿、银矿、钼矿等各种成份分析；
质检部门：工业产品、金、银等各种成份分析。
型号：CIT-3000SM
性能特点
采用数字化谱分析技术，计数率高，无漏计，稳定性好；
采用X光管激发样品，一次激发全部待测元素，韧致辐射型，功耗低、寿命长，对轻重元素均有较高的激发效率；
采用进口的电致冷Si-PIN半导体探测器，分辨率高，无需液氮制冷，使用方便。可以一次性完成对多种元素的探测；
高压电源：电压 0V-50kV连续可调；电流0-lmA连续可调，数码显示，精度高，无故障操作；
样品种类：固体、粉末、液体均可，压片无需添加任何试剂；
腔内环境：空气或真空；
真空环境测量，提高了轻元素的激发效率和测量范围；
2048道多道谱仪实时测量显示，对样品X光谱进行精细分析，系统可自动识别谱线，方便了解样品的组成；
可一次性实现20多种元素的快速、无损、准确分析；
自动稳谱，消除谱峰漂移影响，确保仪器长期稳定；
专业的分析软件，可以实现模式识别，自动分类，开放式软件系统，用户可以根据自身需要建立库文件；
全中文Windows应用软件，操作简单。
技术指标
分析元素：Mg-U，主要是Al、Si、P、S、K、Ca、Ti、V、Fe、Ni、Mn、Pb、Zn、Cu、Sn、Sb、As等
分析范围：1ppm-99.99%
同时分析：20多种元素同时分析
能量范围：1-30keV
测量时间：1-2分钟可以完成全部待测元素的含量分析
探测器的分辨率：150ev
管电压：0-50Kv 管电流： 1～1000 μA
仪器的分析精度：标准偏差≤0.08%
分析误差：优于国家标准要求
辐射剂量：<25μsv/h.
工作环境：温度10～35 ℃ 湿度30～70%RH
電源：AC 220 V±10 %、50/60 Hz
仪器配置
仪器主机一台
控制面板
进口电制冷半导体探测器
X光管（1KV-40KV）
高压电源
计算机一台
激光打印机一台
真空泵一台
压片机一台
制样模具一套
稳压电源一台
测试软件一套