美国KLA G200纳米压痕划痕仪图片

本图片来自上海艾尧科学仪器有限公司提供的美国KLA G200纳米压痕划痕仪,型号为Nano Indenter G200KLA物性测试仪器及设备,产地为美洲美国,属于品牌,参考价格为面议,公司还可为用户供应高品质的美国SciAps手持式LIBS光谱仪美国KLA白光干涉仪等仪器。
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上海艾尧科学仪器有限公司

上海艾尧科学仪器有限公司

银牌6年

营业执照已认证

品牌性质: 一般经销商
厂商荣誉:

仪器核心参数

仪器种类: 纳米压痕/划痕仪(一体化)
产地类别: 进口
最大压痕深度: 1mm
有效加载载荷范围: 0-200N
有效载荷分辨率: 0.06mN
可实现位移范围: 100mm
位移分辨率: 0.003nm
最大摩擦力: 400N
压头类型: 可选
热漂移: 0.05nm/s
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