最全表面分析技术盛会！首届表面分析技术与应用主题网络研讨会全日程公布！

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分享： 2022/09/01 18:55:32

导读：仪器信息网将于2022年9月7-9日举办首届表面分析技术与应用主题网络研讨会，涉及电子能谱、扫描探针显微镜、电子探针/原子探针、二次离子质谱、拉曼光谱及其他表面分析技术与应用。

表面分析技术即利用电子、光子、离子、原子等与固体表面的相互作用，测量从表面散射或发射的电子、光子、离子、原子、分子的能谱、光谱、质谱、空间分布或衍射图像，得到表面成分、表面结构、表面电子态及表面物理化学过程等信息的各种技术。表面分析技术广泛应用于材料表征等领域，是目前最前沿的分析技术之一。

仪器信息网将于2022年9月7-9日举办首届表面分析技术与应用主题网络研讨会，旨在促进表面分析技术与应用领域的发展，利用互联网技术为国内的广大科研及相关工作者提供一个突破时间地域限制的免费学习平台，让大家足不出户便能聆听到表面分析技术专家的精彩报告，节省时间和资金成本。

首届表面分析技术与应用主题网络研讨会共设置了5个主题会场，分别是:电子能谱（XPS/AES/UPS）技术与应用、扫描探针显微镜（AFM/STM）技术与应用、电子探针/原子探针技术与应用、二次离子质谱（SIMS）技术与应用、拉曼光谱及其他表面分析技术与应用。

会议页面（点击快速免费报名参会）：https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/icsa2022/

专场设置

专场主题	专场时间
专场一：电子能谱（XPS/AES/UPS）技术与应用	9月7日上午
专场二：扫描探针显微镜（AFM/STM）技术与应用	9月7日下午
专场三：电子探针/原子探针技术与应用	9月8日上午
专场四：二次离子质谱（SIMS）技术与应用	9月8日下午
专场五：拉曼光谱及其他表面分析技术与应用	9月9日上午

会议全日程

报告时间	报告题目	报告人	工作单位	职务/职称
专场一：电子能谱（XPS/AES/UPS）技术与应用（09月07日上午）
09:00--09:30	原位电子能谱技术应用进展	姚文清	清华大学/国家电子能谱中心	研究员/副主任
09:30--10:00	X射线光电子能谱法在有机高分子材料研究中的应用	程斌	北京化工大学	研究员/副主任
10:00--10:30	光电子能谱（XPS）深度剖析	吴正龙	北京师范大学	教授级高工
10:30--11:00	低能离子散射谱（LEISS）在催化剂表界面研究中的应用	陈明树	厦门大学	教授
11:00--11:30	XPS在催化材料研究中的应用	邱丽美	石油化工科学研究院	高级工程师
11:30--12:00	多功能光电子能谱仪在表面分析中的应用	周楷	重庆大学分析测试中心	高级工程师
12:00--12:30	光电子能谱在固态锂离子电池研究中应用	谢方艳	中山大学	高级实验师
专场二：扫描探针显微镜（AFM/STM）技术与应用（09月07日下午）
14:00--14:30	Coherence enhancement of solid-state qubits by scanning probe microscopy	江颖	北京大学	教授
14:30--15:00	原子力显微镜样品制备方法介绍	潘涛	Park原子力显微镜	高级工程师
15:00--15:30	Local Interfacial Engineering of 2D Atomic Crystals by Advanced Atomic Force Microscopy	程志海	中国人民大学	教授
15:30--16:00	基于STM的亚纳米分辨单分子光谱成像	董振超	中国科学技术大学	教授
16:00--16:30	新型大能隙拓扑绝缘体α‐Bi4Br4的拓扑边缘态	肖文德	北京理工大学	研究员
16:30--17:00	STM原理及在有机分子自组装上的应用	曾庆祷	国家纳米科学中心	研究员
17:00--17:30	Research progress of atomically manipulating structural and electronic properties of low-dimensional structures	陈辉	中科院物理研究所	副研究员
专场三：电子探针/原子探针技术与应用（09月08日上午）
09:00--09:30	电子探针分析技术及其标准化研究	陈振宇	中国地质科学院矿产资源研究所	研究室主任/研究员
09:30--10:00	电子探针市场分析和我们的应对举措	胡晋生	捷欧路（北京）科贸有限公司	表面分析产品经理/部长
10:00--10:30	超轻金属元素Be的原位定量分析及其应用	饶灿	浙江大学	教授
10:30--11:00	岛津epma技术特点及其应用	廖鑫	岛津企业管理（中国）有限公司	EPMA产品专员
11:00--11:30	电子探针微区化学状态分析及其应用	王道岭	中国科学院金属研究所	高级工程师
11:30--12:00	原子探针层析技术最新进展及应用	李慧	上海大学	副研究员
专场四：二次离子质谱（SIMS）技术与应用（09月08日下午）
14:00--14:30	飞行时间二次离子质谱分析技术及其应用	李展平	清华大学分析中心	高级工程师
14:30--15:00	飞行时间二次离子质谱及其应用	汪福意	中国科学院化学研究所	研究员
15:00--15:30	AES/XPS/SIMS/GD-OES(MS)深度剖析定量分析	王江涌	汕头大学物理系	教授
15:30--16:00	用于SIMS的高分辨质谱技术进展及展望	李海洋	中国科学院大连化学物理研究所	研究员
专场五：拉曼光谱及其他表面分析技术与应用（09月09日上午）
09:00--09:30	电化学表面增强拉曼光谱及等离激元介导光化学反应研究	吴德印	厦门大学	教授
09:30--10:00	国产显微共聚焦拉曼光谱成像仪	刘鸿飞	奥普天成（厦门）光电有限公司	董事长/高级工程师
10:00--10:30	表面增强拉曼光谱在纳米颗粒表面化学反应原位检测中的应用	谢微	南开大学	研究员
10:30--11:00	基于消逝场界面耦合的表面增强拉曼光谱新技术	徐抒平	吉林大学超分子结构与材料国家重点实验室	教授
11:00--11:30	双光束原位红外光谱表征技术研究进展	刘家旭	大连理工大学	副教授