第四届表面分析技术应用论坛圆满落幕!参会人数创历史新高！

5月8日，由国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心、北京理化分析测试学会表面分析专业委员会、中国分析测试协会高校分析测试分会、全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分技术委员会及仪器信息网联合举办，为期一天的“第四届表面分析技术应用论坛——表面分析技术在新材料研究中的应用”暨“表面化学分析国家标准宣贯会”主题网络会议圆满落幕！会议为广大网友提供了一个免费学术交流平台，进一步拓展表面科学技术的应用领域。

会议特别邀请到清华大学李景虹院士、中国科学技术大学朱俊发教授、中国科学院兰州化学物理研究所毕迎普研究员、中国计量科学研究院王海副研究员、中国科学院化学研究所刘芬研究员、北京师范大学吴正龙教授级高工等6位表面分析领域大咖及3家仪器厂家进行了报告分享，国家电子能谱中心副主任姚文清老师主持会议。

会议受到了5000余人次的关注，同时与蔻享学术共享平台合作实时同步转播，参会人数累计超过4000人次。创历届新高！会议报告受到了参会网友的强烈反响，据不完全统计，在会议的9个报告期间，网友共提问100余次，网友与报告专家进行了充分的学术交流，参会网友也表示获益匪浅。 

清华大学姚文清高工 来到仪器信息网主持会议

清华大学 李景虹 院士

报告题目：电极界面构造与物质高效转化

能源利用和环境治理的研究中，电能转化率低是研究的瓶颈，如何进一步提高转化效率是目前面临的问题。污水中有很多可利用的重要物质，对于水质净化和资源回收，采用分离回收的传统方法无法合理利用资源，且会造成浪费。李景虹院士在报告中介绍了采用电化学方法实现了对污染物资源化和能源化的有效利用，通过电极材料化学组分优选结构化，降低电化学处理过程中电子转移能垒，同时提出高效电化学过程不单是电极材料研制，合理反应装置的配套是高效电催化过程的助力。

中国科学技术大学 朱俊发 教授

报告题目：同步辐射光电子能谱技术及其应用

光电子能谱（PES）技术是研究固体材料表界面结构和性质的一种重要技术。同步辐射光源具有亮度高、分辨率高和光子能量可调等特性，因而利用同步辐射光源激发的光电子能谱(SRPES)较常规光源PES有着无法比拟的优势。朱俊发教授在报告中首先简单介绍了PES技术的原理及SRPES与常规PES的区别，随后列举介绍了SRPES在功能材料表界面研究中的应用。

Park（帕克）AFM应用专家 谢佳哲

报告题目：光诱导力显微镜（PiFM）的使用案例介绍

光诱导力显微镜(Photo Induced Force Microscope )为基于高解析原子力显微镜上进行AFM-红外IR光谱联用的定量可视化，从而实现分子水平上探测和解析物质的红外光谱特征。可以有效进行并实现纳米尺度材料表面物性和化学分析，并广泛应用于各种有机和无机材料。报告中，谢佳哲举例介绍了Park光诱导力显微镜（PiFM）在新材料领域的应用。

中国科学院兰州化学物理研究所 毕迎普 研究员

报告题目：光催化剂原子间光生电荷迁移及化学价键动态变化研究

太阳能光催化分解水制氢是解决当今全球能源危机的理想技术途径之一。报告中，毕迎普研究员针对制约太阳能光催化效率的核心科学问题—光生电荷，介绍了他开发的原位光照-光电子能谱(ISI-XPS/UPS)等原位表征技术，可直接观测研究光催化反应过程中光生电荷形成、分离、迁移及化学价键动态变化过程，从原子间电子转移本质上认识制约光催化效率的关键科学问题并给出了相应解决思路，为设计构建高效稳定的太阳能光催化转化体系提供了新的研究思路和关键技术支撑。

中国计量科学研究院 王海 副研究员

报告题目：国家标准“GB/T 33498-2017表面化学分析 纳米结构材料表征”宣贯

纳米结构材料的大部分都与表面或界面相关，其表征离不开表面化学分析技术。王海副研究员在报告中介绍了通过“表面化学分析  纳米结构材料表征（GB/T 33498-2017）”这一国家推荐标准，可利用表面分析技术获得纳米结构材料的各类信息，不仅指出了表征纳米结构材料时的普遍问题或难题，而且指出了使用特定方法时的特有途径或难题；重点明确与纳米结构材料表面化学分析具体相关的问题。

赛默飞世尔科技（中国）有限公司 应用工程师 史南南

报告题目：XPS表面分析联用技术和应用——REELS、UPS、Raman

XPS作为一种高效的表面分析手段，因其元素化学态敏感性和表面敏感的特性，可以很好地揭示材料的表面和界面信息。同时，随着表面分析技术拓展性的逐渐增强，结合其他分析技术，如UPS、REELS、ISS和Raman联用等等，可以提供更丰富的样品信息。报告中，史南南主要介绍和分享了XPS与REELS、UPS和Raman等分析技术联用，在聚合物、冰、OLED和石墨烯等材料的表征中的性应用。

中国科学院化学研究所 刘芬 副研究员

报告题目：XPS中绝缘样品和薄膜样品分析

报告中，刘芬副研究员凭借她在表面分析领域多年的丰富经验，结合绝缘样品和薄膜样品XPS分析中的特点，对《GB/T 25185-2010表面化学分析 X射线光电子能谱 荷电控制和荷电校正方法的报告》、《GB/T 36401-2018 表面化学分析 X射线光电子能谱薄膜分析结果的报告》和《GB/T 36401-2018 表面化学分析 X射线光电子能谱薄膜分析结果的报告》三项国家标准进行了解读。

岛津企业管理（中国）有限公司 应用工程师 王文昌

报告题目：岛津X射线光电子能谱应用实例介绍

X射线光电子能谱是利用X射线激发样品表面元素的内层能级电子信号，再用电子能谱仪检测光电子的动能及强度，进而确定元素的种类、价态及相对含量等信息。王文昌在报告中介绍了X射线光电子能谱的原理，岛津XPS在能源、材料、医药等行业的应用进展以及岛津XPS的主要仪器特点。

北京师范大学 教授级高工 吴正龙

报告题目：光电子能谱（XPS）定量分析综述

报告中，吴正龙高工综述了相关国标的具体流程和实操方法：样品处理、实验参数、强度测量、定量方法等。报告内容通俗易懂，结合实际，有助于理解、掌握、使用标准，规范定量测试流程，提高结果的一致性和准确性。

对于参会的网友，其大部分来自于大专院校，主要以相关专业的教师、实验室负责人及学生为主，网友单位包括：清华大学、北京大学、中国科学技术大学、北京科技大学等国内知名高校；其次为科研院所的网友，参会者以科研人员、相关专业教师、工程师及学生为主，单位包括：中科院高能物理所、中科院化学所、国家电投集团研究院等著名科研院所；不仅如此，会议还受到了诸多企业工作人员的关注，参会网友包括企业高管、实验室负责人、技术工程师及检测分析人员等，其中不乏一些国际知名企业，如华为、三星、TCL、宝洁、欧莱雅等，一些知名仪器企业的技术人员也参加了本次会议。

欢迎大家扫描下方二维码，加小编微信，进入到我们的“第四届表面分析论坛技术交流群”中，我们会讲部分报告的视频在群中共享，也方便您与多位老师进行学术交流。