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2019年全国表面分析方法及新能源与新材料表征研讨会圆满召开

仪器信息网 2019/06/11 16:37:12 点击 209 次


5月29日-6月1日, 由云南大学和赛默飞世尔科技(中国)有限公司共同主办的“2019年全国表面分析方法及新能源与新材料表征研讨会“在云南昆明圆满召开。来自国内外的120多名专家学者齐聚昆明,对XPS、Raman、电镜等在表面分析技术等交叉领域的最新研究进展及应用进行了交流和讨论。


随着我国材料科学、化学化工、半导体及薄膜、能源、微电子、信息产业、生物医药及环境领域等高新技术的迅猛发展,表面分析技术在过去的几十年中有了长足进步,在科学研究领域的作用日益增长。“2019年全国表面分析方法及新能源与新材料表征研讨会”正是在这一背景下召开的一个多学科交叉的学术交流会议。


大会伊始,来自云南大学的吕正红院士为研讨会做了开幕致辞。吕院士首先向参加本次研讨会的与会者表示欢迎和感谢,然后介绍了云南三所高校的历史发展,之后就XPS和UPS在OLED科研领域的应用作了详细的介绍。


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云南大学吕正红院士


会议现场气氛热烈,互动频繁。台上,各位专家分享自己的工作内容及成果。


台下,每一位与会者都听得津津有味,并做了认真记录。



提问环节,台上台下就表面分析的研究进行了交流和探讨。

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据赛默飞表面分析及常量元素分析中国区商务经理范春明先生介绍,赛默飞从2014年起坚持每年举行全国表面分析技术研讨会,为仪器分析方法研究人员与科研人员搭建良好的交流平台。仪器分析方法研究人员在此开拓了眼界,为未来的科研工作埋下伏笔。科研人员借此可以了解更多关于表征方法的新进展,为未来在科研工作中获得更好的研究成果打下基础。本次会议聚焦的是新能源与新材料表征,明年将会聚焦其他热门领域。此次会议的举办也是赛默飞作为一家大型企业承担社会责任、促进相关技术交流的体现。


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会议合影

[来源:赛默飞元素分析]
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