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12月7日上午，布鲁克纳米表面仪器部应用专家孙昊博士在中山大学进行了力学测量技术的新进展和峰值力扫描电化学显微镜专题讲座。中山大学的原子力显微镜用户参加了此次讲座。
专题讲座主要介绍了两个专题：
1. Advances in mechanical properties measurement of nano-materials characterization by Bruker AFM，主要介绍近两年布鲁克AFM在测量力学方面的一些进展，包括对力曲线和Force Volume的改进，对PeakForce QNM测量准确性的改进，以及新的Contact resonance, Ramp & Hold和Ramp Scripting。
2.PeakForce SECM，主要介绍布鲁克扫描电化学显微镜PeakForce SECM的概念与原理以及在电化学活性、液体中导电性测量等方面的应用。
布鲁克BNS应用专家 孙昊博士 中山大学AFM专题讲座
同日下午，孙昊博士在华南理工大学进行力学测量技术的新进展主题讲座。接近20名AFM用户参加了此次讲座并参与讨论。
华南理工大学AFM主题讲座 孙昊博士
[来源：布鲁克纳米表面仪器部(Bruker Nano Surfaces)]
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