第二十届全国光谱仪器与分析监测学术研讨会召开

　　仪器信息网讯 2013年10月31日—11月2日，“第二十届全国光谱仪器与分析监测学术研讨会”在镇江召开。本次研讨会由中国仪器仪表学会分析仪器分会主办，光谱仪器专业委员会、上海仪电分析仪器有限公司、江苏大学承办。来自全国高等院校、科研机构及仪器厂商的60余位专家、代表参加了此次会议。

会议现场

　　上海仪电分析仪器有限公司总经理袁为立、中国仪器仪表学会分析仪器分会秘书长刘长宽、光谱仪器专业委员会副主任委员李昌厚、北京北分瑞利分析仪器(集团)有限责任公司总工武惠忠分别致开幕词。本次会议由上海仪电分析仪器有限公司副总工李征、吴斌洁主持。

袁为立、刘长宽

李昌厚、武惠忠

李征、吴斌洁

　　本次会议围绕着光谱仪器发展现状及其在食品、药品安全检测中的应用等主题，邀请了中国科学院上海生物工程研究中心李昌厚作题为“全球分析仪器及其应用的发展现状和有关问题”、复旦大学光科学与工程系陈良尧作题为“高分辨率二维折叠光谱分析仪的研究与进展”、中国人民解放军第二军医大学药学院陆峰作题为“药品安全 拉曼护航”、北京瑞利分析仪器有限公司章诒学作题为“原子吸收光谱分析技术的最新进展”、北京瑞利分析仪器有限公司张锦茂作题为“中国30多年来VG-AFS的发展及最新进展”、江苏大学食品与生物工程学院陈斌作题为“分子光谱分析技术在食品品质检测中的应用”的报告。

陈良尧、陆峰　

章诒学、张锦茂

陈斌

　　光谱仪器专业委员会副主任委员范世福做总结发言，北京瑞利分析仪器有限公司总工程师曾伟介绍“第二十一届全国光谱仪器与分析监测学术研讨会”举办时间、地点等情况。

范世福、曾伟

参会人员合影