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布鲁克光谱(BRUKER OPTICS)
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白金25年
工商信息已核实
工商信息已通过人工核实，
校验时间：2013年07月
校验时间：2013年07月
400-099-8121
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已通过仪器信息网认证
解决方案
拉曼应用分享 | AreaFlash™ 大范围成像
应用领域
半导体检测样品
电学性能测试检测项目
晶圆、聚乙烯晶体、石墨烯粉末在AreaFlash™测量中，专利光学系统将激发光整形为线束，再通过高速扫描振镜对样品表面进行快速扫描（或称“闪扫“）。CCD探测器通过单次曝光即可采集整个照射区域的所有拉曼信号，从而生成相当于整合多达12万个独立测量点信号的空间平均光谱。根据物镜配置不同，AreaFlash™的检测范围最大可达2.2 mm2。这种超快速、大范围的成像技术不仅能提供高信噪比的数据，还能最大限度降低敏感样品的热负荷，确保实现传统逐点映射无法完成的全面覆盖检测。
共1台
拉曼应用分享 | 利用拉曼光谱探索碳纳米材料
应用领域
半导体检测样品
缺陷与失效分析检测项目
无碳纳米材料，特别是碳纳米管（CNT）和石墨烯，以其卓越的强度和导电性闻名。凭借独特的性能，这些材料在电子器件、能源存储和先进复合材料等多种应用中发挥了重要作用。随着这些材料重要性日益增加，越来越多的科研人员希望可以实现更高效直观的材料评估，比如多个样品的同时测
评。
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拉曼应用分享 | 碳化硅（SiC）晶圆全表面晶体多晶型拉曼成像
应用领域
半导体检测样品
晶片外延生长检测项目
无SiC具有多晶型现象，可通过拉曼光谱进行鉴定。借助RAMANdrive的晶圆专用样品台，可对晶圆中
存在的多晶型进行全面拉曼成像。RAMANdrive可将该样品台移动至晶圆上的任一坐标，从而能够
清晰地展示整个晶圆上多晶型分布的3D可视化。
共1台
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