关注
已关注
已认证
粉丝量 0
聚焦离子束扫描电子显微镜（FIB-SEM）
型号：Crossbeam340/550
型号：Crossbeam340/5 SEM的探测能力
低电压电子束分辨率提升高达30%。
无论是二维表面成像或三维重构，蔡司Crossbeam的扫描电子束均可提供优异的表现。借助于Tandem decel在样品上施加电压，Gemini光学系统可以在1kV下获得高达1.4nm的分辨率，从而对任意样品均可获得优秀的图像。可通过一系列的探测器表征您的样品。通过独特的Inlens EsB探测器，可获取纯的材料成分衬度信息。表征不导电样品可以不受荷电效应的影响。
提高您的FIB样品的测试加工效率
通过FIB智能的刻蚀策略，其材料移除速率可提升高达40%。
在镓离子类型的FIB-SEM中采用了大离子束束流。使用高达100nA的离子束束流可显著节约时间，同时具有优秀的FIB束斑形状，从而获得高分辨率。得益于智能的FIB扫描策略，移除材料时高效且精准。可自动批量制取样品，例如截面，TEM样品薄片或任何使用者自定义的图形。
在FIB-SEM分析中体验优异的三维空间分辨率
体验整合的三维能谱分析所带来的优势
可使用蔡司Atlas
5软件扩展您的Crossbeam，它是一个针对快速而准确的三维断层成像的软硬件包。使用Atlas 5中集成的三维分析模块可在三维断层成像的过程中进行能谱分析蔡司Crossbeam将Gemini电子束镜筒和定制的聚焦离子束镜筒结合起来，从而获得高精度与速度。因此FIB-SEM的断层成像可获得优异的三维空间分辨率和各向同性的三维体素尺寸。使用Inlens EsB探测器，探测深度小于3nm，可获得表面敏感的、材料成分衬度图像。
企业名称
藝橋科技（香港）有限公司
企业信息已认证
企业类型
信用代码
成立日期
2017-06-15
注册资本
200
经营范围
藝橋科技（香港）有限公司(简称藝橋科技)，成立于2017年，是一家提供优质进口检测设备的供应商,拥有专业、出色的工程师团队，配备了完善的厂房仓库。客户群体集中在LED封装行业，业务主要包括LED LIGHTING BAR生产线检测解决方案、半导体行业DB&WB检测设备及解决方案、实验室相关检测设备、新能源检测、光学玻璃检查解决方案等。 2019年起，与TTVISION合作研发自动光学检测设备，在研发项目技术领域取得丰硕成果。同时公司战略性调整，开发客户以锂电池行业、半导体行业、高校与研究单位为主，半年间开发有广东气派、华灿光电、利亚德集团、德赛电池、蓝微科技等一批高质量客户。
藝橋科技(香港)有限公司
公司地址
深圳市宝安区82区新安街道新安六路华丰科技园A座5楼523室
客服电话
公司名称： 藝橋科技(香港)有限公司
公司地址： 深圳市宝安区82区新安街道新安六路华丰科技园A座5楼523室 联系人： 黄 邮编： 518000
仪器信息网APP
展位手机站