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上海荣计达仪器科技有限公司
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解决方案
半导体封装抗湿气能力测试方法PCT高压加速老化试验箱
应用领域
半导体检测样品
其他检测项目
半导体封装抗湿气能力测试PCT高压加速老化测试最主要是测试半导体封装之抗湿气能力,待测品被放置严苛的温湿度以及压力环境下测试,如果半导体封装的不好,湿气会沿着胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体之中，其常见的故障原因有爆米花效应、主动金属化区域腐蚀造成之断路封装体引脚间因污染造成之短路等相关问题。
共1台
半导体芯片冷热冲击试验方法高低温冲击试验箱
应用领域
半导体检测样品
其他检测项目
半导体芯片冷热冲击试验芯片在生产过程中，需要对其进行冷热冲击试验。一般情况下，民用芯片的正常工作温度范围是 0℃-70℃，其他芯片性能更高，正常工作温度范围是 -55℃-125℃。以上温度范围都是芯片工作下的温度范围，当芯片不工作时，可以承受超过 200℃ 的焊接温度。
共2台
半导体芯片高低温湿热性能测试方法
应用领域
半导体检测样品
集成电路检测项目
半导体芯片高低温湿热性能高低温湿热试验箱是一种专门用于对半导体芯片和电子元器件进行高温、低温和湿热环境测试的设备。它可以模拟不同的环境条件，以评估芯片和元器件在极端温度和湿度下的性能和可靠性。
共4台
半导体行业高低温老化性能测试方法
应用领域
半导体检测样品
电子元器件产品检测项目
半导体行业高低温老化性能测试高低温老化试验箱可以对半导体器件进行恒温高低温老化测试，以了解器件的性能随时间的变化情况。通过控制恒温高低温条件，使半导体器件长时间暴露在高低温、潮湿等极端环境下，从而反复检测其性能的变化趋势及寿命，以评估其质量和可靠性。
共2台
测试半导体器件性能方法高低温拉力试验机
应用领域
半导体检测样品
光电器件检测项目
测试半导体器件性能方法高低温拉力试验机适用于材料在高低温恒温恒湿环境下拉伸、压缩等多项物理力学性能试验，鼠标选择操作，数据和曲线随试验过程动态显示。简单方便。适用于金属、塑料、橡胶、电子机电产品、航空航天、能源材料、医疗化工等材料在恒温恒湿环境的力学性能试验。
共1台
半导体模拟高原低气压试验方法
应用领域
半导体检测样品
其他检测项目
半导体模拟高原低气压试验为了实现器件的高温工作寿命，这里选择管座对器件进行安装。管座通过压接方式将器件的管脚对应转换为相应的管座引脚，实现器件与PCB电路板的免焊接方式相连。器件使用了管座类似该器件进行了再封装，因此制作的直流老炼电路应以机械结构和转换后具有不同管脚功能的管脚为准。
共1台
高压加速老化测试箱测试半导体封装之抗湿气能力方法
应用领域
半导体检测样品
其他检测项目
测试半导体封装之抗湿气能力PCT高压加速老化测试箱也称为压力锅蒸煮试验或是饱和蒸汽试验,最主要是将待测品置于严苛之温度、饱和湿度(100%.H.饱和水蒸气及压力环境下测试,测试待测品耐高湿能力,针对印刷线路板(PCB&FPC),用来进行材料吸湿率试验、高压蒸煮试验等试验目的,如果待测品是半导体的话,则用来测试半导体封装之抗湿气能力
共5台
