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W系列采用多毛细管光学机构，可将X射线聚焦到7.5μm(FWHM)，是目前使用XRF技术进行镀层厚度分析的极小光斑尺寸。150倍放大相机用于观察样品上的细微特征; 同时配有低倍数相机，用于观察样品的宏观成像。博曼的双摄像头系统可让操作人员看到整个样品，点击图像，通过高倍放大相机进行放大，实现测量点的准确定位和测量。
可编程的XY平台，精度优于+/-1μm，可准确定位多个测量点;博曼专有的样品模式识别软件搭配自动对焦功能可帮助客户自动快速完成细微样品特征的测试。独特的3D Mapping扫描功能可绘制出硅晶圆等部件表面的镀层形貌。
W系列仪器的标准配置包括7.5μm钼靶光学结构（可选铬和钨）和高分辨率、大窗口硅漂移探测器，该探测器每秒可处理超过2百万次计数。硅漂移探测器应用行业广泛，是测量复杂镀层的标准配置。高计数率能力是实现低检测下限和高光谱分辨率的关键。
企业名称
安柏来科学仪器(上海)有限公司
企业信息已认证
企业类型
有限责任公司(自然人投资或控股)
信用代码
913101075630524538
成立日期
2010-09-26
注册资本
人民币150.0000万元整
经营范围
一般项目:仪器仪表销售:仪器仪表修理;仪器仪表制造;工业自动控制系统装置销售;工业自动控制系统装置制造;机械设备销售;通用设备制造(不含特种设备制造);机械设备租赁;金属制日用品制造;家具零配件生产;家具销售:家具制造;五金产品制造;办公设备销售;文化、办公用设备制造;日用品销售;日用品批发;电子产品销售;机械零件、零部件销售;通用零部件制造;销售代理;采购代理服务:国内贸易代理;技术服务、技术开发、技术咨询、技术交流、技术转让、技术推广;品牌管理.(除依法须经批准的项目外,凭营业执照依法自主开展经营活动)许可项目:检验检测服务;货物进出口.(依法须经批准的项目,经相关部门批准后方可开展经营活动,具体经营项目以相关部门批准文件或许可证件为准)
安柏来科学仪器（上海）有限公司
公司地址
上海市普陀区真北路3199弄2号东二楼
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