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E3是一款通用型能量色散型X射线荧光光谱仪（EDXRF)，专门用于镀层厚度检测；其核心部件采用美国进口，软件算法采用美国EDXRF前沿技术，仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告；精密度、准确度、检出限等技术参数全面超过国内外同类仪器，特别针对大件异形不平整样品，无需拆分，直接测试即可达到精确的测试效果。
仪器规格：
● 外形尺寸：360 mm x 600mm x 385 mm （长x宽x高）
● 样品仓尺寸：360mm×400mm x160（长x宽x高，高度可定制）
● 仪器重量：50kg
● 供电电源：AC220V/ 50Hz
● 最大功率：330W
● 工作温度：15-30℃
● 相对湿度：≤85%，不结露
产品特点：
1.1全自动三维样品台
1.2 X射线向下照射式，激光对焦
1.3小光斑设计1.4测试时间灵活性调节
1.4测试时间灵活性调节
1.5多规格样品仓
1.6 X-Ray探测器
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企业名称
深圳市禾苗分析仪器有限公司
企业信息已认证
企业类型
信用代码
440301106293932
成立日期
2012-05-13
注册资本
100
经营范围
化学分析仪器、测量与控制仪器、计量器具和实验设备的销售(不含经营医疗器械);软件产品的研发;国内贸易;经营进出口业务。(以上法律、行政法规、国务院决定禁止的项目除外,限制的项目须取得许可后方可经营)^荧光光谱仪(不含医疗器械)的技术研发、生产及销售。
深圳市禾苗分析仪器有限公司
公司地址
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公司名称： 深圳市禾苗分析仪器有限公司
公司地址： 深圳市禾苗分析仪器有限公司 联系人： 张水生 邮编： 518052
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