X射线光谱仪

XUV光谱仪是新型的像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。

    单光栅（标准配置）可覆盖5-80nm测量范围

技术参数

?

技术优势介绍：

- Direct imaging of the source / Superior signal strength

In contrast to conventional devices our XUV spectrometer does not 

require a narrow entrance aperture but rather images the harmonic source 

directly onto the detector. Thus 80% or more of the incoming beam can be 

used for measurement. Please see 

#!services/cihc for a sketch drawing.

This configuration typically collects 15 to 25 times more light than 

standard versions, resulting in a signal-to-noise figure improved by the 

same ratio.

In some experiments, this improved signal strength is the crucial step 

for realizing a measurement at all.

- Flat-field imaging technology

Our instruments are based on high quality aberration-corrected 

flat-field gratings. In contrast to conventional gratings these focus 

all wavelengths onto a plane rather than a circle. This allows for 

positioning the entire detector in the focal plane of the grating for 

superior spectral resolution.

- Compactness / Modularity

The spectrometer is very compact and can be bolted directly to a vacuum 

chamber. It is capable of carrying its own weight, no table required. 

There are no externally moving parts.

Through its modular design, our spectrometer can be adapted to a number 

of configurations (source distance, spectral range, detectors, vacuum 

pumping, etc). This makes it highly flexible for varying requirements 

and experiments.

- Robust against misalignment

The compact design of the spectrometer makes it inherently insensitive 

against mechanical and environmental disturbances (vibrations, 

acoustics, etc). No externally moving parts and closed-loop grating 

actuators with absolute position monitoring add to the robustness and 

allow for monitoring of the grating alignment at all times.

In addition, the concept of a spectrometer without entrance slit also 

makes the instrument less sensitive to misalignment. Under typical 

operating conditions a misalignment of the beam in the dispersion 

direction on the entrance of the spectrometer by 500um would lead to a 

signal reduction by more than 20% in an instrument with entrance slit 

while it is less than 10% for our design.

- Customization

The adaptability of our XUV spectrometer makes it possible to highly 

custom-fit the device to requirements. Thus we offer to customize every 

spectrometer to exactly match the desired research application. This 

includes e.g. interfacing to experimental chambers, adaption of the 

source distance, integration of customer-supplied detectors, 

user-defined filter mounts, non-magnetic instruments, special mounting 

situations, etc.

典型客户：

1） 苏黎世联邦理工学院

2） The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH)

3） MPQ

4） Los Alamos

5） Max Planck Institute