波前分析仪CLAS-2D

美国LUMETRICS公司自主研发的CLAS-2D^TM系列波前分析仪（CLAS-2D™ , CLAS-XP™, CLAS-HP™, CLAS- NearIR-320™, CLAS-NearIR-640™）能够快速、简单、准确的测量激光光束的波前相位参数，例如波前倾斜，峰谷误差，均方根波前误差，像散，球差，聚焦误差/准直。

LUMETRICS公司的波前分析仪是集四波横向剪切干涉仪，光束质量分析仪，自准直仪和四象限探测器为一体的快速、紧凑型波前分析仪器。运用独特的算法能够精确测量三个波段的波前参数：300nm -1100 nm, 1100nm - 1700nm和8 um- 9.2 um。

另外, 美国LUMETRICS波前传感器生产厂家具有雄厚的技术研发实力，能为客户提供的各种自适应光学系统OA-SYS(Adaptive Optics Loops)，制定个性化解决方案。可根据客户的应用需求，为客户推荐最合适的波前传感器、可变形镜或空间光调制器、自适应光学系统操作软件等。

波前分析仪产品特点：

CLAS-2D^TM系列波前分析仪具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析，眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案！LUMETRICS波前探测器配套的软件界面友好，可直观的输出高分辨率相位图和光束强度分布图。

波前分析仪应用范围：

? 激光、天文、显微、眼科等复杂自适应光学系统波前像差检测

? 激光光束性能、波前像差、M²、强度等的检测

?  红外、近红外探测

? 平行光管/望远镜系统的检测与装调

? 卫星遥感成像、生物成像、热成像领域

?  球面、非球面光学元器件检测 (平面, 球面, 透镜)

?  虹膜定位像差引导

? 大口径高精度光学元器件检测

?  激光通信领域

?  航空航天领域

CLAS-2D^TM产品型号汇总

COMPLETE CLAS-XP System

COMPLETE CLAS-HP System

COMPLETE CLAS-Near IR 320 System