分类:
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品牌:
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品牌:
E+H Metrology
型号:
MX 608
产地:
德国
参考资料:
0篇
解决方案:
0篇
典型用户:
0条
品牌:
E+H Metrology
型号:
MX 604-ST
产地:
德国
参考资料:
0篇
解决方案:
0篇
典型用户:
0条
瞬渺科技(香港)有限公司为您提供2台晶圆缺陷光学检测设备,包括晶圆厚度/非接触电阻率测试仪 MX608,单点晶圆厚度/电阻率测试仪 MX604,
不管是晶圆缺陷光学检测设备原理、参数,还是晶圆缺陷光学检测设备价格、型号都可咨询,公司客服电话,售前、售后均可联系我们。