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上海伯东半导体芯片温度测试|高低温测试机

产地: 美国
型号: ATS-710-M
报价: ¥20万 - 50万
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核心参数

产地类别: 进口

产品介绍

上海伯东 inTEST-Temptronic thermostream 高速温度测试机应用于半导体芯片温度测试
上海伯东客户某国际半导体厂商选用 inTEST-Temptronic ATS-710-M 高速温度测试机用于半导体芯片的温度冲击和温度循环测试,inTEST-Temptronic ATS-710-M 提供循环测试温度:-80°C 至 +225°C,每秒可快速升温/降温 18 °C,成功完成芯片的温度循环测试,疲劳失效测试。上海伯东作为 inTEST 中国地区总代理,全权负责其新品销售和售后维修服务。
inTEST-Temptronic ATS-710-M 提供 2 种检测模式 Air Mode 和 DUT Mode,温度显示精度:±1°C (通过美国国家标准与技术研究院 NIST 校准)

inTEST-Temptronic
上海伯东客户现场图片:

inTEST-ATS-710-M-7
鉴于信息保密,更详细的 inTEST 半导体芯片温度测试应用案例,欢迎拨打客服热线:021-5046-3511!

上海伯东主营真空品牌:德国 Pfeiffer 真空设备;美国 Polycold 深冷泵;美国 KRI 考夫曼离子源;美国 HVA 真空闸阀:美国 inTEST-Temptronic高速温度循环试验机;日本 NS 离子蚀刻机等。


上海伯东版权所有,翻拷必究!

 

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inTEST- Temptronic冲击试验箱ATS-710-M的工作原理介绍

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工商信息

企业名称

伯东企业(上海)有限公司

企业信息已认证

企业类型

信用代码

310115400032917

成立日期

1995-12-01

注册资本

800

经营范围

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伯东公司德国普发真空pfeiffer为您提供inTEST- Temptronic上海伯东半导体芯片温度测试|高低温测试机ATS-710-M,inTEST- TemptronicATS-710-M产地为美国,属于进口高低温冲击试验箱/冷热冲击试验箱,除了上海伯东半导体芯片温度测试|高低温测试机的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供伯东进口inTEST- Temptronic高低温冲击试验箱/冷热冲击试验箱ATS 505、inTEST|高低温冲击测试|热流仪|热流罩 ATS-515 伯东代理、inTEST,高低温测试机,高低温冲击测试机,热流仪,热流罩,上海伯东客服电话400-860-5168转0727,售前、售后均可联系。
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