2023年12月19日 10:00-2023年12月19日 10:30

本报告主要介绍牛津仪器MAG部门的多种显微分析技术及成像系统，包括：NA部门的EDS和EBSD，在电镜上提供微区的元素和结构分析；全新的Unity探测器，集合了BSE图像探测器和X光探测器，适合快速、大区域、实时的样品表面形貌和成分成像；AZtecWave系统将Wave波谱仪整合到成熟的微区分析系统AZtec中，有效提高了波谱仪的操控性，适合微量、痕量元素的高精度定量分析，也能有效避免元素的重叠峰。AR部门的原子力显微镜，如Cypher、Jupiter等，能提供高通量、高分辨的原子力显微镜成像，适合多种物性的分析和研究。WiTec部门提供的高灵敏度、高分辨激光共聚焦拉曼显微镜，通过分析微区的化学键，可以提供相、结晶性、含量等丰富的信息，分辨率达到300nm，也能做浅表层的3D成像。拉曼显微镜还能和电镜整合成一体化的联用系统，适合快速多技术分析同一感兴趣区。报告还会介绍几个多技术联用的应用案例。

2023年11月29日 15:00-2023年11月29日 15:30

面对日益增加的环境危机，世界各国均主张通过技术进步获得新型能源来解决这一危机。几十年来，新能源材料的研究一直是材料领域的热点。新能源材料同样遵循最基本的规律，其成分和显微结构决定了服役性能。因此，通过各种技术分析材料的结构属性是提高新能源材料性能的必经之路。牛津仪器的材料分析技术涵盖了用于成分分析的EDS&WDS、结构和取向分析的EBSD&Raman成像以及物理性能测试的AFM，这些技术可多维度地表征材料的结构和性能，为新能源材料的研究提供技术支持。本次报告将以具体的案例展示这些显微分析技术在新能源材料中的应用，敬请观看！

2023年11月23日 10:30-2023年11月23日 11:00

在药物实际样品检测过程中，会面临各种问题，例如不破坏制剂微结构的前提下如何获得平整的截面样品，如何检测药品样品的均匀性，如何确定原料药和赋形剂的固态形式，以及分析污染物与外来颗粒等。通过扫描电镜及能谱仪、拉曼光谱、拉曼成像-扫描电镜一体化等显微分析技术对医药制剂中元素含量、API成分、辅料组成及分布进行分析，赋能药物分析。

2023年11月08日 14:30-2023年11月08日 15:00

在二维材料的研究中，原子力显微镜（AFM）常用于测量片层的厚度，或者进行基础的形貌表征。其实AFM的作用远不止于此。先进的AFM能够常规化地解析二维材料的晶格或超晶格结构，而AFM丰富的电学和力学模式可以测量导电性、功函数、杨氏模量等物理性质。报告将会介绍AFM在二维材料高分辨成像和物性测试中的应用。案例不仅包含石墨烯和过渡金属硫化物，也涉及COF、MOF、小分子所构成的有机二维晶体，以及对空气敏感的二维材料。除了表征，AFM还是一个微纳加工工具，通过力和电场调控二维材料的形态和性质。

2023年11月02日 15:00-2023年11月02日 15:30

低场台式核磁采用稀土永磁体，不需要液氮液氦等制冷剂，操作简单，维护方便。时域核磁（TD-NMR）分析通常无需破坏样品，没有繁琐的预处理，不必使用有害溶剂，可实现样品的批量快速检测。频域核磁（FT-NMR）通过傅里叶变换得到波谱，可以对样品进行基于结构的检测分析。本次研讨会我们将分享牛津仪器台式核磁技术及应用。

2023年10月18日 10:30-2023年10月18日 11:00

能谱（EDS）是半导体失效分析中常用的检测手段，但它只能揭示元素的异常，如果要对晶圆进行其他物性（如粗糙度、掺杂浓度、电势电位和内应力等）的分析，则需借助电子背散射衍射（EBSD）、原子力显微镜（AFM）和拉曼光谱（Raman）进行多尺度、多方位的检测和分析。 本报告将从结合三代半导体的痛点，展开介绍牛津仪器材料分析手段的进展及其在三代半导体中的应用，内容包括使用EBSD检测外延片位错，利用Raman分析碳化硅晶芯片晶型和微管类型及其带来的应力变化，以及采用AFM的SCM模式检测电容，并定量载流子浓度的最新应用。

2023年08月24日 10:00-2023年08月24日 10:30

显微尺度下的矿物分析是地质领域非常重要的研究内容，采用不同的分析技术可以获得多维度的信息。牛津仪器的材料分析集团（Materials Analysis Group）整合了EDS、EBSD、WDS、Raman、AFM等多种显微分析技术，这些技术均可用于地矿样品的分析。本次报告将以具体的案例详细地展示这些技术在地矿领域的最新进展，包括但不限于以下内容：1.EDS技术定量分析、鉴定未知矿物相；2.AZtecWave分析微量-痕量元素以及谱峰重叠严重的元素；3.Unity探测器对全样品进行BEX成像；4.EBSD技术分析矿物的相分布、取向关系和变形状态等；5.AZtecMineral分析矿物相比例、解离度、共生关系等参数；6.Raman成像技术鉴别矿物相、分析矿物相的三维分布；7.AFM技术分析矿物的物理性能。

2023年07月19日 14:00-2023年07月19日 22:00

近日，牛津仪器发布了Unity探测器，它是一项基于扫描电子显微镜（SEM）的全新成像技术。Unity是同时集成背射电子和X射线（BEX，Backscattered Electron X-ray）传感器的商用成像系统。Unity全新的设计实现了背散射图像与元素面分布图的同步高效采集，为样品导航提供了高分辨率全彩成像技术解决方案。 1. 什么是BEX成像技术 BEX，即背散射电子和X射线成像，是一种全新的SEM成像技术。BEX探测器集成了背散射电子（BSE）和X射线传感器，位于极靴正下方，能够在常规SEM工作条件下实现对样品形貌、晶体取向和化学成分进行同步、快速、高分辨的成像。 <img src="https://img1.17img.cn/17img/images/202307/uepic/03288f63-3d1c-445a-8f35-cdc722f888a0.jpg" title="1111.png" alt="1111.png" _src="https://img1.17img.cn/17img/images/202307/uepic/03288f63-3d1c-445a-8f35-cdc722f888a0.jpg"> BEX成像示意图 BSE探测器的核心结构是位于极靴正下方的p-n半导体，可以有效地采集能量更高的BSE信号。BSE产额随试样的平均原子序数增加而升高，在BSE图像中，越亮的区域意味着更高的原子序数。通过逻辑运算，具有两个或多个分割区域的半导体BSE探测器还可以显示试样表面的起伏信息。 X射线传感器通常是硅漂移探测器（SDD），用于分析特征X射线，其工作原理与EDS相同。软件算法能够自动识别谱图中存在的元素并进行配色，最终输出与BSE信号叠加的彩色图像，如下图所示。 <img src="https://img1.17img.cn/17img/images/202307/uepic/64a6072d-ed27-493d-ae9f-1dc4cbbeb6a8.jpg" title="2.1.png" alt="2.1.png" _src="https://img1.17img.cn/17img/images/202307/uepic/64a6072d-ed27-493d-ae9f-1dc4cbbeb6a8.jpg"> 同一视场下BSE图像（左）和BEX图像（右）对比 2. Unity系统简介 基于BEX成像技术，牛津仪器推出了集背散射电子和X射线探测器于一体的Unity探测器。Unity完美集成了背散射电子和X射线传感器。Unity BEX探测器前端如下图所示。 <img src="https://img1.17img.cn/17img/images/202307/uepic/8521bc4b-7bbb-494e-b410-09c6b693fd05.jpg" title="3.png" alt="3.png" _src="https://img1.17img.cn/17img/images/202307/uepic/8521bc4b-7bbb-494e-b410-09c6b693fd05.jpg"> Unity的BSE传感器与常规BSE探测器相似，成像区域中更亮的部分意味着密度或平均原子序数更高。与传统成像探头不同，X-ray传感器采集来自样品的特征X射线并转化为成分信息，使得Unity系统可快速生成彩色图片。来自这两个传感器的信号可智能叠加，获得易于解释的样品形貌图。通过瞬时获得样品图像，消除了样品分析过程中的主观臆断和不确定性，使操作人员更有信心的进行样品检索，极大提高分析效率。 3. Unity系统特点 (1) 工作距离灵活 Unity在极靴下工作，X射线传感器的立体角更大，同时保证了在较宽泛的WD范围内元素分析结果的一致性和准确性。 (2) 无阴影无遮挡 Unity的双X射线传感器设计消除了样品表面起伏造成的阴影效应，即使在深槽、断面等难做样品上也可以获得足够信号量。此外，双BSE传感器可用于Z衬度和形貌衬度成像，两种模式一键即可切换。 (3) 成像视野大 Unity探测器前端设计了大尺寸光阑，即使在鱼眼模式下电子束也全无视野遮挡，有利于全景模式成像和高分辨率的分析。 (4) 适配低真空模式 应对导电性差的样品，Unity可一键由高真空切换至低真空工作模式，无惧荷电影响。 (5) BSE传感器性能优异 Unity的BSE传感器采用定制的几何外形和帕尔贴制冷技术，拥有更高的信号量和探测灵敏度。 (6) 全景模式 通过样品导航功能，方便的设定全景采集范围，几分钟内即可对毫米级或厘米级样品进行全景采集，之后基于全景结果，定位任意感兴趣位置进行详细分析，使检测及分析更加有的放矢。 4. BEX精美结果展现 <img src="https://img1.17img.cn/17img/images/202307/uepic/141048d5-e8d5-4925-92c7-e69f874a9544.jpg" title="4.png" alt="4.png" _src="https://img1.17img.cn/17img/images/202307/uepic/141048d5-e8d5-4925-92c7-e69f874a9544.jpg"> 全景模式下，花岗岩样品相分布分析。BEX图像，20kV，2nA，15s <img src="https://img1.17img.cn/17img/images/202307/uepic/f14feeac-bda3-441a-81fd-f04a06b2588e.jpg" title="5.png" alt="5.png" _src="https://img1.17img.cn/17img/images/202307/uepic/f14feeac-bda3-441a-81fd-f04a06b2588e.jpg"> 全景模式下，芯片样品的失效分析。BEX图像，20kV，1.5nA，4s <img src="https://img1.17img.cn/17img/images/202307/uepic/fb01c624-67ab-4804-a9dd-b363339e0e48.jpg" title="6.png" alt="6.png" _src="https://img1.17img.cn/17img/images/202307/uepic/fb01c624-67ab-4804-a9dd-b363339e0e48.jpg"> NiAgAl界面研究。10kV，3nA，4s 5. Unity 专场讲座（演示） Unity 探测器已经成功安装于牛津仪器北京演示实验室，欢迎大家参观、来访。 <img src="https://img1.17img.cn/17img/images/202307/uepic/92e43c73-2162-4c83-a345-460b4311d06a.jpg" title="7.png" alt="7.png" _src="https://img1.17img.cn/17img/images/202307/uepic/92e43c73-2162-4c83-a345-460b4311d06a.jpg"> 时间：7月19日 14:00-17:00 北京办地址：北京市西城区西什库大街31号 17号楼 服务热线：400 678 0609 nameeting.china@oxinst.com <img src="https://img1.17img.cn/17img/images/202307/uepic/59dd9839-0c81-4115-a783-524eee565bc0.jpg" title="海报（直播 现场）.jpg" alt="海报（直播 现场）.jpg" _src="https://img1.17img.cn/17img/images/202307/uepic/59dd9839-0c81-4115-a783-524eee565bc0.jpg"> 扫码报名 牛津仪器 ，赞31

2023年05月24日 09:30-2023年05月24日 10:00

更新中

2023年03月16日 14:30-2023年03月16日 15:00

牛津仪器的能谱仪(EDS)、波谱仪(WDS)及电子背散射衍射仪(EBSD)是显微成分、结构及组织分析的利器。在正负极材料清洁度分析、成分及组织表征、导电集流体结构分析等方面有着广泛的应用。牛津仪器应用专家将为大家带来精彩的报告。

2022年12月21日 10:00-2022年12月21日 10:30

近几年，由于化合物半导体行业的飞速发展，其衬底以及外延薄膜质量评价越来越受到关注。如何评价高质量衬底和外延薄膜对工艺优化至关重要。原子力显微镜（AFM）是评价衬底和薄膜质量不可或缺的技术手段。在本次讲座中，主要用AFM从表面结构，力学性质和电学性质全面评价衬底和薄膜质量，涉及材料生长机制、表面不均匀性、缺陷类型、粗糙度、表面污染、力学性质、导电、表面电势、高压击穿等，从而实现对衬底和薄膜质量的全面评估。

2022年11月22日 09:30-2022年11月22日 10:00

通过扫描电镜及能谱仪对医药制剂中元素含量及分布进行分析，已为越来越多行业专家所认可并使用的方法。但在实际样品检测过程中，会面临各种问题，例如不破坏制剂微结构的前提下如何获得平整的截面样品，如何对以轻元素为主的制剂进行准确的定性定量分析以及大面积的分析，同时面对多种辅料元素接近的情况下，如何利用SEM、EDS及Raman多种技术联用进行区分及鉴定。