大塚纳米粒度及zeta电位仪ELSZ-neo
大塚纳米粒度及zeta电位仪ELSZ-neo

¥50万 - 60万

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日本大塚电子

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ELSZ-neo

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亚洲

核心参数

产地类别: 进口

粒度测量范围: 0.1nm~10μm

粒度测量重现性: ±2%

测试温度: 0~90℃

温控精度: 0.1℃

光信号频率: 638nm

粒度检测方法: 动态光散射法

样品量范围: 3μL~1.5ml

样品浓度范围: 0.001~40%

Zeta 电位测量范围: -200mv~+200mv

测量时间: 1sec/点

分子量测量范围: 340~20M

纳米粒度及zeta电位分析仪 ELSZneo

ZETA电位\粒径\分子量测量系统 

ELSZneoの本体2.jpg


作为ELSZseries的最高级机型,除了能在稀薄溶液&浓厚溶液中进行的zeta电位和粒径测定之外还能进行分子量测定。为了提高粒度分布的解析能力,采用了多散射角度测定。另外,也可实现测量粒子浓度测定、微流变学测定、凝胶网状结构分析等全新功能。

全新的ZETA电位平板固体样品池,通过新开发的对应高盐浓度的涂层,可以在生理盐水等高盐浓度环境下进行测量。3μL样品量就能测定粒径的超微量样品池也位列其中,从而扩大了生命科学领域测试的各种可能性。此外还可以进行自动温度梯度测量的蛋白质变性和相变温度分析。


特长

●可对应从稀薄到浓厚溶液(0.001~40%)宽泛范围的粒径和ZETA电位测量

●通过多角度测定,可对应测量分辨更高的粒径分布

●可以在高盐浓度下测量固体样品表面的zeta电位

●通过静态光散射法可测量粒子的浓度

●能过动态光散射法进行微流变学分析(粘弹性)

●通过测量凝胶样品在多个点的散射强度和扩散系数,可以分析凝胶的网络结构和不均匀性。

●可以在0 ~ 90℃的广泛温度范围内进行测量

●通过温度的梯度机能,可对蛋白质等的变性及相变温度进行解析

●通过样品池内的实测电气浸透流图分析,提供高精度的ZETA电位测量结果,

可安装荧光偏光滤光器(选配)



用途

非常适用于界面化学、无机物质、半导体、聚合物、生物学、制药和医学领域的基础研究和应用研究,不仅涉及微小颗粒,还涉及薄膜和平板表面的科学研究。

 

●新型功能材料领域

燃料电池相关(碳纳米管、富勒烯、功能膜、催化剂、纳米金属)

纳米生物相关(纳米胶囊、树枝状聚合物、DDS、纳米生物粒子)、纳米气泡等。

 

●陶瓷/着色材料工业领域

陶瓷(二氧化硅/氧化铝/氧化钛等)

无机溶胶的表面改性/分散/聚集控制

颜料的分散/聚集控制(炭黑/有机颜料)

浆料状样品

滤光器

浮游选定矿物的捕集材料的收集和研究浮

●半导体领域

异物附着在硅晶片表面的原理解析

研磨剂和添加剂与晶片表面的相互作用的研究

CMP浆料的相互作用

 

●聚合物/化工领域

乳液(涂料/粘合剂)的分散/聚集控制,乳胶的表面改性(医药/工业)

聚电解质(聚苯乙烯磺酸盐,聚羧酸等)的功能研究

功能纳米颗粒纸/纸浆造纸过程控制和纸浆添加剂研究

 

●制药/食品工业领域  

乳液(食品/香料/医疗/化妆品)分散/聚集控制及蛋白质的机能性检测

脂质体/囊泡分散/聚集控制及表面活性剂(胶束)机能性检测


原理

●粒度测量原理:动态光散射法(光子相关光谱法)



●Zeta电位测量原理:电泳光散射法(激光多普勒法)



测量ZETA电位时,在样品池内的粒子除了会泳动外,还会产生电渗流。

电渗流是指在样品池内壁面带有负电荷时,溶液中的正离子会聚集于壁面附近。如施加电场时,壁面附近的正离子会往负离子电极方向移动,并在样品池内中央附近产生的一种对流现象。

森冈本公式——充分考虑电渗流后进行样品池泳动速度的解析

森.png


电渗透流应用于多成分解析

ELSZ Series通过实际测理样品内多点观察到的电泳移动度,可以确认测量数据内ZETA电位分布的再现性及判定杂质的波峰。

多成分.png


固体平板样品池的应用

固体平板样品池是将固体平板样品紧密接触于盒型石英样品池上方而形成一体的构造。

实测样品池高度方向各层观测粒子的电泳移动度,根据所得到的电渗流Profile可分析出固体表面电渗流速度,进而求得平板样品表面的ZETA电位。

平板.png


高浓度样品池的测理原理

对于光不易穿透的高浓度样品或有色样品,由于受到多重散射和吸收等影响,以往使用的ELSZ series很难测量到所需结果。但现在,ELSZ series搭载的标准样品池的测量范围扩大,可测量稀溶液样品及至高浓度溶液样品,并且,通过采用FST法的高浓度样品池可测量高浓度样品领域的ZETA电位。

高浓度.png


分子量测理原理(静态光散射法)

众所周知,静态光散射法可以轻松测量绝对分子量。

测量原理为,将光线照射在溶液分子上可以得到散射光,根据散射光的绝对值求取分子量,即利用了大分子可得到强散射光,小分子可得到弱散射光的现象。

实际上,因为浓度不同散射光强度也不同,实测数点不同浓度溶液的光散射强度,代入以下公式绘制图示。横轴为浓度,纵轴为与散射强度Kc/R(θ)相等的倒数。此方法也被称为Debye图示法。

籍由往零浓度(C=0)外插的倒数求取分子量Mw,并以此初期梯度可求得第二维里系数A2.

分子量较大的分子,散射强度会因角度而不同。分子量籍由测量不同散射角度(θ)的散射强度不但可提高测精度,也可获得分子扩散指标的回转半径。以固定角度进行测量时,只要输入推测的回转半径,角度将自行补正,可测量更高精度的分子量。

分子量.png


第二维里系数

表示溶媒中分子间的排斥与吸引程度,更易于观察溶剂分子的相容性与结晶化现象。

A2为正时,代表溶剂相容性高,分子间排斥力强,更加稳定。

A2为负时,代表溶剂相容性低,分子间吸引力强,易产生凝集。

A2=0时,代表溶剂为理想溶剂,此时温度被称为理想温度,排斥与吸引力处于平衡状态,易产生结晶化。



规格

测量原理

粒径

动态光散射法(光子相关法)

ZETA电位

电泳光散射法(激光多普勒法)

分子量

静态光散射法

光学系统

粒径

零差光学系统

ZETA电位

外差光学

分子量

零差光学系统

光源

高功率半导体激光器

探测器

高灵敏度APD

细胞

ZETA电位:标准池 微量一次性池或浓缩池

对于粒度/分子量:方形池

温度

0~90度(带梯度功能)

电源

220V ± 10% 250VA

尺寸(WDH)

330W)×565D)×245H)

重量

22公斤


测量实例

多角度测量,分辨率更高

通过从正面,侧面和背面三个角度进行测量和分析,我们提供了具有更高分辨率的粒径分布。

无法通过1个角度测量分离的样品也可以通过3角度测量和分析分离为多个峰。


粒子浓度测定

可以通过静态光散射法计算溶液中的粒子浓度。

浓度.png

微流变学测量

通过动态光散射全使能够测量诸如聚合物和蛋白质之类的软结构的粘弹性。

粘痰.png


凝胶网络结构分析

通过测量凝胶样品在多个点的散射强度和扩散系数,可以分析凝胶的网络结构和不均匀性。

 

高浓度下的平板固体样品测量

用于测量平板状样品表面ZETA电位的样品池新登场。新开发的高盐浓度涂层能够在高盐浓度环境(154Mm NaCL溶液)中进行测量。实再对生物相容性材料的评估。

高盐.png


售后服务承诺

保修期: 1年

是否可延长保修期:

现场技术咨询:

免费培训: 1次免费培训

免费仪器保养: 不定期回访服务

保内维修承诺: 保修期内免费更换零件

报修承诺: 24小时内电话响应,48小时内到达维修现场

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