Zeta电位纳米粒度仪DLS100_参数

核心参数

产地类别： 国产

粒度测量范围： 0.7nm-10μm

粒度测量重现性： ±2%

测试温度： 10-50℃

温控精度： ±0.1℃

光信号频率： 无

粒度检测方法： DLS

样品浓度范围： 0.1mg/L-100mg/L

样品量范围： 10μl

Zeta 电位测量范围： -500~+500mV

测量时间： 2min

分子量测量范围： 无

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产品简介

纳米粒度与Zeta电位分析仪是集成纳米胶体溶液的颗粒粒度，及其Zeta电位的高性能光学检测装置。该装置测量纳米颗粒的粒度和Zeta电位的原理分别是：动态光散射（Dynamic Light Scattering，DLS）技术，与电泳光散射（Electrophoretic Light Scattering, ELS）技术。应用上述技术，可以实时、准确地检测胶体溶液中纳米颗粒的粒径及粒径分布，以及Zeta电位等参数，可广泛的应用于生物、医药、化工、食品、材料制备和污水处理等领域的基础研究、质量分析和质量控制等应用。

zeta纳米粒度仪小.jpg

‍主要技术指标与性能

‍‍‍

DLS粒度检测
粒径范围	1nm ~ 2μm
检测角度	90°
分析算法	累积法、非负最小二乘法（NNLS）、CONTIN
Zeta电位测试
检测角度	18°
Zeta范围	-500mV ~ +500mV
粒径范围	1nm ~ 1μm
系统参数
温控范围	10°C ~ 50°C +/- 0.1°C，自动控制
冷凝控制	半导体制冷
标准激光光源	35mW，可调半导体激光器，波长635nm
相关器	硬件相关器，支持多τ、线性多种模式
检测器	PMT光子计数器
光强控制	0.0001% ~ 100%，手动或者自动
符合标准	ISO13321， ISO22412，ISO13099-2

突出特点

（1）高速、准确的检测能力

（2）高性能自适应光子相关器，提高检测的实时性、准确性和重复性

（3）自适应光源强度调节，保证测量装置检测性能的稳定性和重复性

（4）高灵敏度和稳定度的光子计数级光电信号检测能力，

（5）可靠的光纤耦合装置，高效地增加DLS和ELS信号的信噪比，提高测量稳定性

（6）准确智能的频谱分析算法，提高ELS的测量精度

（7）高稳定性的光路与电路设计：消除杂散光和噪声信号的影响，结果稳定性和重复性高

售后服务承诺

保修期: 1年

是否可延长保修期: 是

现场技术咨询: 有

免费培训: 首次安装调试免费

免费仪器保养: 有

保内维修承诺: 保修期内非人为引起的损坏，免费更换、维修零件

报修承诺: 1天内电话回应，到场解决按实际情况

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