STOE 粉晶衍射仪反射模式样品II
STOE 粉晶衍射仪反射模式样品II

¥20万 - 50万

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STOE

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反射模式样品II

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欧洲

  • 银牌
  • 第10年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
该产品已下架
核心参数

反射模式样品II

l  利用反射模式来确定薄膜厚度,组成和界面粗糙度

l  利用掠射实验来对薄膜进行相分析

l  用配备数字显示的千分尺来控制样本的位置校准

l  能够手动调节样品架的倾斜度

l  适用于:STADI PSTADI MP

 

 


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