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分析原理
| 能量色散X射线荧光分析法
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分析元素
| Si～U(Cd/Pb高精度型)
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检出下限(Cd/Pd)
| Cd≦2 ppm, Pb≦5 ppm Cl≦50ppm
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样品形状
| 最大460×360 mm(高150 mm)
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样品室气氛
| 大气
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X射线管
| 靶材
| Rh
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管电压
| 最大50 kV
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管电流
| 最大1 mA
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X射线照射径
| Φ3 mm
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检测器
| 高纯硅检测器 XEROPHY
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液氮罐容量
| 3升
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液氮消耗量
| 每日1升以下(不开机时不用)
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光学图像观察
| 倍率 50倍(X射线同轴)
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软件
| 定性分析：自动定性或手动定性
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定量分析：检量线法 照射直径3mm时
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计算机
| CPU
| Pentium IV 1.8 GHz 以上
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内存
| 1GB 以上
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硬盘
| 120 GB 以上
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OS
| Windows XP
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监视器
| 17寸 CRT(任选：17寸 LED)
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打印机
| 彩色喷墨打印机
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周围温度
| 10～35 ℃(性能温度)/ 5～40 ℃(动作温度)
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周围湿度
| 5～31 ℃时温度范围：最大相対湿度80 %以下
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电源
| AC 100 V、120 V、220 V、240 V ±10 %、50/60 Hz
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消耗电力
| 1.3 kVA 以下(含计算机、CRT、打印机)
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设备重量
| 约 265 kg(不含桌子、计算机)
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外形尺寸
| 分析单元
| 610(W)×750(D)×500(H)mm
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信号处理单元
| 220(W)×500(D)×480(H)mm | ||
波散型XRFXGT-1700的工作原理介绍
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PHASE公司北京代表处
