产品介绍:
SQM-500W表面质量检测系统用于对样品表面清洁质量进行检测与分析。
SQM系列产品的重大突破是首次提供表面清洁度的定量分析。可以对各种表面上的污染进行非接触无损伤的快速准确的测量。结果能够为优化表面清洁工艺提供真实可靠的分析,为产品品质提供有力可信的保证,是公司利润和信誉提供必不可少的保障。
产品特点:
■ 各种材料表面:硅/蓝宝石/碳化硅/砷化镓/石英/锗/铌酸锂/金属
■ 各种污染:有机的和无机的污染物
■ 可对清洁度定量分析
■ 可对清洁度等级设定
■ 对新的清洁工艺进行评估,优化工艺
■ 可以检测到难以观测到的薄膜
■ 测量薄膜厚度
■ 在线和离线可选择
■ 样品不需要其他准备动作,可直接检测,方便快捷
■ 非接触,无损害
■ 精度可达埃米
其他型号
型号 | 功能简介 |
SQM200W | 单通道系统,检测表面清洁度。自动储存。 |
SQM300W | SQM200W+有机和无机薄膜厚度,过程控制图表。 |
SQM400W (仅针对NASA,对其他所有客户不销售) | 多通道系统,检测表面清洁度,有机和无机薄膜厚度。 |
SQM500W | 集成扫描,3D彩色图形系统,可检测不可见的污染物,使其直观可见。 |
SQM600W | 集成扫描,3D彩色图形系统,可检测不可见的污染物,使其直观可见。 |
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