纳米压痕仪

经过多年的研究与进步，是德纳米压痕仪已经发展成为一种测量精确、用途灵活、界面友好的测试工具，广泛应用于纳米力学测试研究中。配有电磁驱动装置的仪器系统，在力学和位移操作上，可以达到空前的动态测量范围。

Nano Indenter G200是一套完整的纳米力学显微探针系统，其功能包括了纳米压痕、纳米划痕以及纳米力学显微镜等。整个测试流程都是全自动的，这样就提高了测试数据的可靠性和可重复性。

G200主要特性与技术指标

• 符合 ISO 14577 标准的测量结果

• 具有极佳动态范围的电磁驱动器

• 具有灵活性，以及针对可重复使用或全新应用的可升级能力

• 通过压痕深度处的连续刚度测量，实现动态特性表征

• 实时控制、简便的协议开发和漂移补偿

优势

• 精确的测量结果，高度的再现性，完全符合IS014577国际标准，GB／T 22458-2008国家标准。

• 载荷和位移的动态测量范围在同类产品中首屈一指

• 利用连续刚度测量技术对压入深度方向的动态力学性能进行精确的表征

应用 

• 半导体材料

• 薄膜材料

• 微机电系统

• 硬质涂层

• DLC膜

• 生物材料

若需要大的样品台，请查看G300纳米压痕测试系统相关信息 。