SPIP材料表面分析软件
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¥6.9万

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SPIP

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SPIP6.0.13

--

美洲

  • 铜牌
  • 第15年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
核心参数
多年来,扫描探针图像处理软件SPIP™,已经成为实际意义上的纳米级图像处理的标准。第一版SPIP™发布于1995年。然而Image Metrology公司的创始人Dr.Jan F. Jørgensen已于5年前就开始在其工科博士研究部分项目中开发SPIP™图像处理软件。期间曾与IBM及丹麦基础计量研究所及丹麦科技大学等单位合作开发SPIP™软件。
在超过42个国家的前沿的研究机构和高科技公司将SPIP™图像处理软件应用于半导体检测中,物理,材料科学,化学,生物学,计量学技术,纳米技术等很多领域。
 
 
SPIP™图形分析软件支持包括扫描探针显微(SPM),干涉显微镜,扫描电子显微镜(SEM),共聚焦显微镜,光学显微镜,和三维轮廓仪等各种类型的显微镜及他们所生成的数据文件。无论你是资深的用户或者是刚刚入门的图像处理的初学者。使用SPIP™图像处理软件,您只需点击几下鼠标即可得到您需要的分析结果。
SPIP™图像处理软件是一个模块化的软件,提供包括一个基础软件分析模块和13个可选的附加模块。基础模块包含必要的基本特征分析,例如文件读取、数据分析、平面校正等功能。附加模块则是为针对某些特定功能测试提供,包括归一化校准、降低噪声、分析、3D构建。在随后的彩页中你会发现各项功能的详细介绍。从中您可以学到如何提高您工作的效率和质量。
 
¨      扫描探针显微镜(SPM)
¨      扫描电子显微镜(SEM)
¨      透射电子显微镜(TEM)
¨      干涉仪
¨      共焦显微镜
¨      三维轮廓仪
 
 
 
---基本分析模块
校准和特征展现
---校准
---针尖的表征
降低噪声,提高特征
---相关平均
---滤波
---扩展的傅立叶分析
测量和分析
---粒度分析
---粗糙度及硬度分析
---力曲线的分析
---隧道效应光谱电流图像
可视化
---三维可视化工作环境
---视频与时间序列分析
增益生产能力
批量处理模块和自动报告
组织
--- 图片浏览器
定制
---插头接口
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