图1:交流会议现场
15日下午,在钢研总院理化检测中心,蔡司应用专家Andy Holwell、欧波同工程师与来自河钢集团工艺研究所、用户技术研究所、特材研究所和理化检测中心的技术人员展开深入交流,主要探讨了聚焦离子束扫描电子显微镜(FIB-SEM)、飞行时间二次离子质谱(ToF-SIMS)和X射线显微镜(XRM)在钢铁行业的应用技术。
图2:蔡司应用专家Andy Holwell(右一)
图3:参会技术人员
[来源:北京欧波同光学技术有限公司]
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