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【在线讲座】详解超快速新型材料表征技术PP-TOFMS——4月4日

HORIBA

2017/03/29 17:55

阅读:29

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等离子体分析飞行时间质谱仪(pp-tofms)是一款新型材料表征技术,用于超快速、元素组分的深度剖析。

此次网络讲座将通过诸多实例为您展示研发过程中pp-tofms从薄膜和器件的生长到加工中表现的分析潜力。


加入会议,你将:



  • 熟识pp-tofms的基本特征(分析速度、灵敏度和分辨率

  • 了解pp-tofms和目前熟知的表面化学分析技术(如xps, sims, sem-edx, rbs)间的互补性

  • 了解pp-tofms在快速表面&深度分析中的强大功能


谁需要参加?



  • 从事材料研究的学术专家及研发工程师,如半导体、微电子、光电及光伏材料研究

  • 计量管理人员及计量工程师;表面分析专家;xps、sims、aes用户等


讲师


agnès tempez, phd

pp-tofms产品经理,horiba scientific


yann mazel

计量工程师


emmanuel nolot, phd

首席计量师,cea-leti


时间


4月4日 星期二

10:00  am / 5:00 pm(欧洲夏令)


报名


点击左下角“阅读原文”报名直达(国外系统打开较慢,请耐心等待):

https://events.r20.constantcontact.com/register/eventreg?oeidk=a07edumvafd61969351&oseq=&c=&ch=


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  • 电话:33-169747200

  • 邮箱:live-sci.fr@horiba.com


 
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我们希望通过这种分享方式,使您对光学及光谱技术有更系统、全面的了解,不断提高仪器使用水平,解决应用中的问题,进而提升科研水平,更好地探索未知世界。

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