美国SOC公司首席科学家Jafolla博士及国际销售经理Zemlan先生应邀将于本月底到访我司,并将在随后的几天内与我司协同举办学术研讨会,期间Jafolla博士和Zemlan先生将与相关客户进行技术交流,主要内容为高光谱成像技术的最新发展与应用以及光学材料的反射率测量领域相关应用。
Jafolla博士致力于高光谱/空间算法开发利用区域,并将这些技术应用于医疗、农业和工业等高光谱测量领域。他还设计并开发了用于红外反射特性、光学常数及反射率和透射率测量的高端设备。
美国SOC公司的产品主要包括成像光谱仪和反射率测量仪两大类;其成像光谱仪具有独特的内置扫描设计,大大减轻了整机重量,提高了可操作性。其产品在进入中国市场的很短时间内便获得了广泛认同。
本次交流研讨会主要安排如下:
1、 2014.6.3 下午2:00,协办单位:中科院遥感地球所(大屯路,原遥感所);
2、 2014.6.4 上午9:00,协办单位:中国农业科学院区划所;
3、 2014.6.4 下午2:00,协办单位:国家农业工程信息化工程研究中心;
4、 2014.6.4 下午4:30,协办单位:清华大学;
5、 2014.6.5 上午9:00,协办单位:中国计量科学院。
现场我们将用SOC710成像光谱仪和SOC410/ET100反射率发射率测量仪进行演示。欢迎感兴趣的研究人员及专家学者前来参加,具体事宜请与我们联系确认。
电话:010-62111182
邮箱:zdf@azup.com.cn
网站:http://www.azup.com.cn
[来源:北京安洲科技有限公司]
2020.11.17
2020.08.25
S185机载高光谱+固定翼无人机 | 松嫩平原西部湿地大面积高光谱普查
2020.08.19
2020.08.03
2020.07.03
2020.04.14
版权与免责声明:
① 凡本网注明"来源:仪器信息网"的所有作品,版权均属于仪器信息网,未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用。已获本网授权的作品,应在授权范围内使用,并注明"来源:仪器信息网"。违者本网将追究相关法律责任。
② 本网凡注明"来源:xxx(非本网)"的作品,均转载自其它媒体,转载目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责,且不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。如其他媒体、网站或个人从本网下载使用,必须保留本网注明的"稿件来源",并自负版权等法律责任。
③ 如涉及作品内容、版权等问题,请在作品发表之日起两周内与本网联系,否则视为默认仪器信息网有权转载。
谢谢您的赞赏,您的鼓励是我前进的动力~
打赏失败了~
评论成功+4积分
评论成功,积分获取达到限制
投票成功~
投票失败了~