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公司简介
资质荣誉
NADAtech wafer Sorter
Hitachi+S4700+SEM
晶圆/硅片划遗线检测/统计Slip Finder
美国Gaertner椭偏仪/膜厚测量仪/Ellipsometer
扩散炉/LPCVD/diffusion and LPCVD Furnace
FSM128非接触薄膜应力测试
MTI 硅片几何参数(厚度,TTV,Bow,Warp)
美国Mactronix硅片倒片机(半导体FAB专用)
WEP,ECV PN结深度测试仪/扩散浓度分布)
美国AST椭偏仪
CV仪/汞探针(美国四维公司)Four Dimensions,Inc.(4D)
进口四探针电阻率测试仪(4PP)/方块电阻测试仪
NK database
Angtrom Sun Tech. Introduction to Ellipsometry NK Database
213KB
2013-08-01
Database
Angstrom Sun Tech. Introduction to Ellipsometry Database
179KB
四探针/电阻率/方块电阻测试
280系列:最大8英寸晶圆,或测试平整表面样品,根据应用不同有PI,PCI,SI,TSI,TCI,DI,HCI等不同型号,其中SI为最普及型(大概占280系列销量的95%以上); 120系列:测试大尺寸棒状或块状样品; 1100系列:测量最大到2130mm X 2400mm,平板行业专用; 680系列:III IV族化合物专用; M4PP 3093系列:采用液体金属汞替代传统金属探针的四探针设备; 233/333系列:针对最大8寸或12寸的全自动型设备;
2079KB
2013-02-05
赛伦科技
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公司名称: 赛伦科技(上海)办事处
公司地址: 上海市黄浦区陆家浜路1378号万事利大厦601室 联系人: 吴13817915874 邮编: 200011 联系电话: 400-860-5168转2024
椭偏仪 四探针方阻测试仪 气体流量计 电磁/电涡流测厚仪 其它光谱仪 其它通用分析 其它光学测量仪 其它物性测试仪器 其它常用设备
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