VENTEON PULSE ONE

Venteon <8 fs 超快雷射震荡器 德国Venteon 专门从事于生产高质量光学镀膜，使其能符合不管是工业界或学术界非常严格的要求，因自身的设计能力，使其能设计一系列高规格镜片，如Edge Filter、Bandpass Filter、GVD-Mirror、非线性晶体和高功率雷射镜片等。 此外,提供各式超短脉冲激光(<8fs),作为高阶激光领域之研究.

VENTEON PULSE FOUR (SPIDER)_v2.2

Venteon <8 fs 超快雷射震荡器 德国Venteon 专门从事于生产高质量光学镀膜，使其能符合不管是工业界或学术界非常严格的要求，因自身的设计能力，使其能设计一系列高规格镜片，如Edge Filter、Bandpass Filter、GVD-Mirror、非线性晶体和高功率雷射镜片等。 此外,提供各式超短脉冲激光(<8fs),作为高阶激光领域之研究.

fox_vcsel_data_sheet

AEHR 老化测试系统 1. 老化测试系统ABTS-L 1) 高可靠性老化测试系统 2) 可作环境测试的同时进行Functional Test 3) 可同时支持Logic和Memory类IC老化测试;最大可Up to 72slots 4) 1个Driver Board对应一个Zone 5) 可同时测试多种产品,最大可有320 I/0Channel;N+1的模块化电源设计, 如果其中任一电源损坏,备用电源自动切换工作,独立的可配置的CPB电源板设计 6) 可提供纯净的电源供给BIB给客户应用,同时还非常省电, 电路板和电源都可以进行热拔插更换 7) 有High power类应用配置 8) 可客制化配置 9) 可支持高达100瓦/Device,72组/BIB电源供给客户应用,且开放接口可供客户自行制作BIB! 2. 老化测试系统ABTS-Mini 配置同ABTS-L,应用于应用量比较少的场合 例如实验室,标准6Slots,可Up to 12Slots 3. 老化测试系统ABTS-Double Mini 配置同ABTS-Mini 为两台MINI叠加 有2个温度区,应用于多温度需求 标准12slots,可Up to 24slots.

FOX-15 revBFP Datasheet

AEHR 老化测试系统 1. 老化测试系统ABTS-L 1) 高可靠性老化测试系统 2) 可作环境测试的同时进行Functional Test 3) 可同时支持Logic和Memory类IC老化测试;最大可Up to 72slots 4) 1个Driver Board对应一个Zone 5) 可同时测试多种产品,最大可有320 I/0Channel;N+1的模块化电源设计, 如果其中任一电源损坏,备用电源自动切换工作,独立的可配置的CPB电源板设计 6) 可提供纯净的电源供给BIB给客户应用,同时还非常省电, 电路板和电源都可以进行热拔插更换 7) 有High power类应用配置 8) 可客制化配置 9) 可支持高达100瓦/Device,72组/BIB电源供给客户应用,且开放接口可供客户自行制作BIB! 2. 老化测试系统ABTS-Mini 配置同ABTS-L,应用于应用量比较少的场合 例如实验室,标准6Slots,可Up to 12Slots 3. 老化测试系统ABTS-Double Mini 配置同ABTS-Mini 为两台MINI叠加 有2个温度区,应用于多温度需求 标准12slots,可Up to 24slots.

FOX-1 revCFP

AEHR 老化测试系统 1. 老化测试系统ABTS-L 1) 高可靠性老化测试系统 2) 可作环境测试的同时进行Functional Test 3) 可同时支持Logic和Memory类IC老化测试;最大可Up to 72slots 4) 1个Driver Board对应一个Zone 5) 可同时测试多种产品,最大可有320 I/0Channel;N+1的模块化电源设计, 如果其中任一电源损坏,备用电源自动切换工作,独立的可配置的CPB电源板设计 6) 可提供纯净的电源供给BIB给客户应用,同时还非常省电, 电路板和电源都可以进行热拔插更换 7) 有High power类应用配置 8) 可客制化配置 9) 可支持高达100瓦/Device,72组/BIB电源供给客户应用,且开放接口可供客户自行制作BIB! 2. 老化测试系统ABTS-Mini 配置同ABTS-L,应用于应用量比较少的场合 例如实验室,标准6Slots,可Up to 12Slots 3. 老化测试系统ABTS-Double Mini 配置同ABTS-Mini 为两台MINI叠加 有2个温度区,应用于多温度需求 标准12slots,可Up to 24slots.

diepak_brochure

AEHR 老化测试系统 1. 老化测试系统ABTS-L 1) 高可靠性老化测试系统 2) 可作环境测试的同时进行Functional Test 3) 可同时支持Logic和Memory类IC老化测试;最大可Up to 72slots 4) 1个Driver Board对应一个Zone 5) 可同时测试多种产品,最大可有320 I/0Channel;N+1的模块化电源设计, 如果其中任一电源损坏,备用电源自动切换工作,独立的可配置的CPB电源板设计 6) 可提供纯净的电源供给BIB给客户应用,同时还非常省电, 电路板和电源都可以进行热拔插更换 7) 有High power类应用配置 8) 可客制化配置 9) 可支持高达100瓦/Device,72组/BIB电源供给客户应用,且开放接口可供客户自行制作BIB! 2. 老化测试系统ABTS-Mini 配置同ABTS-L,应用于应用量比较少的场合 例如实验室,标准6Slots,可Up to 12Slots 3. 老化测试系统ABTS-Double Mini 配置同ABTS-Mini 为两台MINI叠加 有2个温度区,应用于多温度需求 标准12slots,可Up to 24slots.