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使用FT150h测量片式元器件电极膜厚
智能手机或车载电脑等使用的片式元器件,由于产品的小型化和多功能化,更加追求高密度的安装,部件本身也变得越来越小。它们中电极部分使用Sn和Ni双层膜的情况较多,因此对其膜厚管理的追求也越高。FT150系列配备了新型聚光光学系以及升级后的Vortex?检测器,可实现对今后越来越小型化片式元器件的电极部膜厚的高精确度Ni/Sn的同时测量。此份资料中,介绍了FT150系列阵容中通过Sn和Ag等高能量荧光X射线使测量性能强化后的FT150对陶瓷片式元器件冷凝器的Ni/Sn层进行膜厚测量,之后更进一步确认对样品断面研磨后的电极部膜厚案例
电子/电气
2016/07/05
使用FT150测量片式元器件电极膜厚
智能手机或车载电脑等使用的片式元器件,由于产品的小型化和多功能化,更加追求高密度的安装,部件本身也变得越来越小。它们中电极部分使用Sn和Ni双层膜的情况较多,因此对其膜厚管理的追求也越高。FT150系列配备了新型聚光光学系以及升级后的Vortex?检测器,可实现对今后越来越小型化片式元器件的电极部膜厚的高精确度Ni/Sn的同时测量。此份资料中,介绍了使用FT150对陶瓷片式元器件冷凝器的Ni/Sn层进行膜厚测量,之后更进一步确认对样品断面研磨后的电极部膜厚案例
电子/电气
2016/07/05
利用FT150测量Au/Pd/Ni三层膜
本资料中,介绍了利用FT150对微小范围内Cu质地上薄的Au/Pd/Ni三层膜进行测量性能评价。另外,FT9500X也可测量并进行结果比较。
电子/电气
2016/05/16
利用FT150进行无电解无电解镍镀层膜厚和磷成分分析
此份资料中,介绍了利用FT150同时测量铁上无电解镍和铜上无电解镍膜厚和磷含有量的案例。另外,也一同介绍了与FT9500X系列之间的比较。
电子/电气
2016/05/16
利用FT150h测量陶瓷芯片部件中Sn/Ni 双层膜
FT150h配备了新型聚光光学系以及升级后的Vortex?检测器,对于从前机种难以测量的微小范围,实现了同时高精度测量更厚的Sn与它下面的Ni,此份资料中介绍了针对陶瓷片式原器件的疑似样品,Ag上的Sn/Ni双层膜的同时测量的案例。
电子/电气
2016/05/16
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