核心参数
产地类别: 进口
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快速、深度剖析LED芯片的镀层结构
1、分析速度快,不到2分钟可获得LED芯片的镀层结构。2、测试重复性好,可放置于产线,快速筛查产品的合格率或条件优化。3、操作简单,无需额外的超高真空设备。4、维护方便。5、优异的深度分辨率,小可达亚纳米级别。
半导体
2015/01/13
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Depth Profile analysis of organic and organic/inorganic multilayered materials by pulsed RF GDOES
Some applications of pulsed RF GDOES for the analysis of organic and organic/inorganic films are described highlighting the potentialities of the technique in this domain.脉冲式射频操作模式是最新、最先进且最灵活的分析模式, 它适用于所有材料。UFS专利技术可对聚合物分子层进行超快速溅射,不仅增强了信噪比而且能够在超高深度分辨率下测试包埋在厚聚合物下的镀层。
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2016/08/15
GDOES Double pumping of the source
The double pumping of the GD source with 2 pumps is an important feature of the instrument.双泵系统可清晰地观察到 样品颗粒结构。
877KB
2016/08/15
Follow up of carbonitriding process by RF GDOES
RF GDOES is suitable for fast and accurate measurements of carbonitrided samples allowing to follow C and N depth profiles.脉冲式射频辉光放电光谱数据可跟踪N和C的深度分布,与其它所有元素控制渗氮过程,并且与硬度测试结果一致。
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2016/08/15
Published papers with GD data
A survey of journals in which papers with GD data are found is presented.辉光放电光谱技术在材料科学领域展现了强大的活力,市面上每年发表60篇以上含有GDS数据的科技论文。
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2016/08/15
Measurement of halogen elements by RF GDOES
卤族元素存在于大量的聚合物中,为许多表面研究感兴趣。卤素的检测不是GD的经典检测,但气体变化的等离子体研究,脉冲式射频的引入以及UFS的发明,打开了新的应用领域。
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2016/08/12
H & D Measurement of Hydrogen (and Deuterium) by RF GDOES
GDS是少数几个可以测试元素H的技术之一。因辉光放电光谱仪具有卓越的光谱分辨率,而且可同时测定元素H和其同位素D,非常适用于核研究领域。
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2016/08/12
HORIBA (中国)
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