ARL Perform’X 波长色散荧光光谱仪

XPS一般用于分析材料表面、薄膜材料和一些界面材料的元素信息。该技术无需外部校准便可得到量化的结果，很少需要或无需样品制备。XPS 的应用十分广泛，包含教学研究、工业研发和第三方实验室的质量监测和控制等等。

使用X射线荧光光谱进行催化剂中贵金属含量的检测，是一种低成本短周期的测试方法。XRF贵金属检测的难点在两个方面：一个是贵金属含量较低，在50-5000ppm间，光谱强度低稳定性较差；另一方面产品的生产过程步骤较多（至少两次的涂层涂覆，传统方法涂覆量差异较大），产品的一致性较差（产品最终的元素组成差异较大），有着显著的基体效应。使用采用超短距光学耦合技术的Perform’X 能够帮助贵金属元素激发更高的谱线强度。本方案就以陶瓷催化剂为例，对使用X射线荧光光谱法测试催化剂中贵金属含量进行讨论。

石油工业里的很多ASTM、IP、ISO规范和其它标准方法采用了WDXRF。 赛默飞世尔科技根据待测元素及其浓度范围、样品类型（固体和液体）和工作量要求提供了多种X射线仪器。从成本效益的ARL OPTIM'X光谱仪，适合简单而专用的分析任务（例如分析石油中的硫、汽油中的铅或者少量样品中的少量元素），到最为先进的ARL PERFORM’X系列光谱仪，可用于中心实验室，赛默飞世尔为石油工业的各个领域提供了适合的分析手段。由于灵敏度高、稳定性好，赛默飞世尔的X射线荧光光谱仪已经被应用于各种标准方法中，如ASTM D2622、 ASTM D4927、ISO 20884等。

采用赛默飞世尔科技的ARL PERFORM’X 波长色散X射线荧光光谱仪，该仪器功能强大，性能稳定，并拥有一个快速切换分析环境的部件，可实现从真空到氦气氛围的快速变化（﹤2 min），用于分析液体样品。 依据ASTM D2622标准方法建立了校正曲线，以此说明石油中硫 (S) 元素的分析。制备六个标准样品建立了校正曲线。分析条件均按照ASTM D2622标准设定。

X射线荧光光谱仪能够用于定量分析，对于无限厚的样品来说，所测量的元素特征谱线的强度与样品中该元素的浓度成正比，但是对于非无限厚的样品如镀层样品来说，测量的谱线强度不仅与元素浓度有关，而且还与样品的厚度有关。而对于组成单一或恒定的镀层样品来说，测量得到的X射线强度只与镀层的厚度有关。 对于镀锌板来说，其镀层为纯的金属锌。因此，可以用测得的Zn特征谱线强度与镀层的厚度建立对应关系。

炉渣是钢铁冶炼过程中，酸性氧化物与碱性氧化物作用的产物，炉渣的化学成分关系到钢铁的质量，以及高炉，转炉等的使用寿命，利用系数等，在冶炼水平飞速发展的今天，对其常见组分的准确、快速分析就显得尤为重要。 目前，炉渣的主要分析方法可采用化学法，原子吸收法和电感耦合等离子体原子发射光谱法等等，但由于炉渣基体成分较为复杂，这些方法共同的缺点是样品前处理较为繁琐，而且大多采用一定的分离，掩蔽措施才能进行分析，分析时间长，消耗成本高。 X射线荧光光谱法可以测量炉渣中的主次量元素的含量，分析范围广，适用于各种炉渣和组分与其相似的其他原料的常规组分分析，从而达到快速控制生产的目的。

氧化铝是一种用途非常广泛的工业原材料， 由于硬度较大可用作磨料，抛光粉。高温烧结的氧化铝，称人造刚玉或人造宝石，可制机械轴承或钟表中的钻石。氧化铝也用作高温耐火材料，制耐火砖、坩埚、瓷器、人造宝石等，氧化铝也是炼铝的原料。而在实际的生产过程中，需要测定其中的主次元素含量，但在高纯的氧化铝粉中，杂质组分一般都在几十个ppm的浓度水平。近些年中国的氧化铝工业快速发展，产量远远高于世界平均水平，X射线荧光光谱法作为标准分析方法《GB/T6609.30-2009》，可以准确、快速进行化学组分的测定，为生产控制提供参考也就显得尤为重要。

燃煤电厂烟气污染物中的氮氧化物（NOx）对我国大气污染物总量的贡献率达到60%以上，当前燃煤电厂控制NOx的主流方式为SCR（Selective Cataltic Reduction）烟气脱硝技术，而SCR脱硝催化剂则是整个脱硝技术中的关键。目前最常用的脱硝催化剂为钒钛系列，其中TiO2作为主要载体、V2O5为主要活性成分、WO3和MoO3为辅助成份。在生产效率飞速发展的今天，对催化剂常见组分（尤其是V2O5等活性成分）的准确、快速分析，为催化效率的监控提供参考就显得尤为重要。 目前，脱硝催化剂的主要分析方法包括湿法化学分析、原子吸收法和电感耦合等离子体原子发射光谱法等，但这些方法共同的缺点是样品前处理较为繁琐、分析时间长、消耗成本高。相比之下，X射线荧光光谱法可以快速测定脱硝催化剂中主次量元素的含量，分析范围广，预处理相对简单，适用于脱硝催化剂的常规组分分析。

需要监测耐火材料产品的主要元素，以确保满足应用的合适成分。很多次量和痕量元素也需要监测，以确保稳定性，并且减少可能给他们的用户带来的潜在污染。 耐火材料是极其稳定的氧化物合成物，从而很难将其溶解并用于标准的湿法化学或火焰原子吸收/ICP进行分析。正是基于考虑这些因素，波长色散X射线荧光(WDXRF)则是用于日常的常规过程质量保证和控制以及研发的理想仪器。 WDXRF分析是一种稳定的快速分析技术，且只需要很少量的样品制备。WDXRF分析的样品可以是松散的粉末，压片，锂的硼酸盐熔片或者甚至是液体溶液。

本方案为快速检测碳化渣中TiC成分及精确定量，样品为碳化渣粉末，共11个样品。对于多物相样品定量分析，内标物标准曲线法是一种较为常用和相对准确的方法。该方法需要选择合适的内标物，要求内标物参比衍射峰与待测物相衍射峰不重叠，可以清晰的做分峰处理，从而得到两种物相的衍射峰强度值。本实验选用Y2O3作为内标物即使遵守此原则。

石墨材料及其原料中的杂质元素分析，也越来越受到很多行业的关注。例如在电解铝行业中，石墨材料作为预焙阳极参与电化学反应而被大量消耗。通常制作预焙阳极的材料来源于石油焦、沥青以及残余的阳极，这些原料中的杂质元素不仅影响了阳极的质量还影响了电解槽中的阳极行为和铝锭的质量。随着电解铝行业大力倡导节能降耗以及碳素材料出口的增加，行业迫切需要一种快速方法来测定预焙阳极及其原料中的杂质元素。 石墨材料的石墨化度、产品和原料的杂质浓度都是材料性能指标和质量控制/工艺调整的依据，是生产及研发过程中必不可少的检测项目。而XRD和XRF作为成熟的现代分析仪器，是解决这些需求的金标准。

将熔窑中流出的玻璃液引流到锡槽中，理想的情况是玻璃经平面成型抛光，从而制得高质量低成本的浮法玻璃。然而在生产过程中锡离子也进入玻璃下表面即玻璃渗锡，成为浮法玻璃的固有缺陷。渗锡后玻璃的光散射及渗锡层和玻璃块体的折射率差异增大，且玻璃透光率也降低。经热处理后的玻璃表面2价锡被氧化成4价锡从而引起区域体积变化，形成玻璃缺陷。所以渗锡量是浮法玻璃渗锡过程的一个重要控制参数，通过波长色散X射线荧光光谱仪（WDXRF）建立校准曲线可以测定不同规格类型的浮法工艺玻璃，X射线荧光光谱法可以直接测定玻璃表面的锡层并得到对应的强度信息，进而算出较为通俗的厚度计量单位（ug/cm2），适用于玻璃表面的锡层厚度分析，从而达到快速控制生产的目的。

玻璃中的着色剂(氧化钴、氧化镍、氧化铁、氧化铬、氧化锰)的含量直接影响玻璃的色度和透过率。在研究高、中、低透玻璃转换过程中,其含量对及时调整配方,使高、中、低透玻璃顺利转换都有很大的指导意义，通常所应用的化学方法须要4~6小时,这些方法对于日常的检查是不适合的。因此,及时而准确地测定玻璃中着色剂显得尤为重要。X射线荧光光谱法可以直接测定玻璃中的微量元素，无需复杂的样品制备，可在3~5分钟内完成测试。

玻璃通常以石英砂、纯碱、长石及石灰石等为原料，经混和、高温熔融、匀化后，加工成形，再经退火而得。对于浮法玻璃来说,由于厚度的均匀性比较好,透明度也比较强,是光学性能较好的玻璃类型,广泛用于建筑、日用、医疗、化学、电子、仪表、核工程等领域，同时它也是进行玻璃深加工的最为重要的原片之一。在生产工艺水平飞速发展的今天，对其常见组分的准确、快速分析就显得尤为重要。

铁精粉是铁矿石经过破碎、粉磨、磁选、浮选、重选等程序选出的铁含量较高的粉末，通常的品位在50%~70%，目前铁精粉主要的原产国有巴西（65%品位赤铁矿）、澳大利亚（60%品位褐铁矿）、印度（61.5%品位赤铁矿）等。铁精粉中主要成分为铁的化合物、CaO、MgO、Al2O3及SiO2，还有P、S、Na、K、As、Zn、Pb、Cu等对钢铁生产有害的元素和Mn、Ti、V、Cr等有益的元素。利用X射线荧光光谱，可以对铁精粉中的主次量元素进行准确快速地分析，为质量控制提供保障，提高生产效率。

铁矿石是钢铁生产企业的重要原材料，在整个钢铁冶炼过程中，铁矿石的成分分析非常重要。在过去的日常生产中，常采用湿化学分析方法，试样加工时往往采取碱熔后再进行溶解的方法，不同元素分析时还要采取过滤分离等繁杂手段以消除元素间干扰。用湿化学方法进行铁矿石分析，分析速度慢，溶解及分离过程中较易带来人为误差，不易进行大批量的分析。 X荧光光谱法具有分析速度快、样品制备相对简单、偶然误差小及分析精度高的特点，已广泛应用于各种原材料的分析中，包括铁矿石的成分分析。但由于铁矿石成分较为复杂，铁元素含量较高且变化范围较大，基体效应较为明显，这些对X荧光分析造成不利影响。通常采用压片法直接进行铁矿石分析时，其准确度不如化学法高。 采用玻璃熔片法对样品进行熔融稀释处理，可以有效地消除荧光分析中样品的粒度、密度、和成分的不均匀性等影响，大大降低了基体的吸收增强效应和共存元素的干扰，拓宽了分析范围，提高了分析速度，适用于铁矿石原材料的常规组分分析。

硅石是脉石英、石英石英砂岩的总称，多用于冶金，化学等工业，是建材工业中生产玻璃的重要原材料。硅石品位的高低直接影响与各原料的配比，而其他元素，诸如Fe2O3的含量则直接关系到成品玻璃的透光率等。在生产工艺水平飞速发展的今天，对其常见组分的准确、快速分析，为生产控制提供参考依据就显得尤为重要。目前，硅石的主要分析方法可采用湿法化学，原子吸收法和电感耦合等离子体原子发射光谱法等等，但这些方法共同的缺点是样品前处理较为繁琐，分析时间长，消耗成本高。X射线荧光光谱法可以测定硅石中的主次量元素的含量，分析范围广，适用于硅石的常规组分分析，从而达到快速控制生产的目的。

硅石是脉石英、石英石英砂岩的总称，多用于冶金，化学等工业，是建材工业中生产玻璃的重要原材料。硅石品位的高低直接影响与各原料的配比，而其他元素，诸如Fe2O3的含量则直接关系到成品玻璃的透光率等。在生产工艺水平飞速发展的今天，对其常见组分的准确、快速分析，为生产控制提供参考依据就显得尤为重要。目前，硅石的主要分析方法可采用湿法化学，原子吸收法和电感耦合等离子体原子发射光谱法等等，但这些方法共同的缺点是样品前处理较为繁琐，分析时间长，消耗成本高。X射线荧光光谱法可以测定硅石中的微量元素的含量，分析范围广，可以实现快速控制生产的目的。

化探即地球化学勘探，是一种探矿方法，是系统地测量和研究各类天然物质中与自然资源有关的地球化学指标，进行资源勘查或预测的方法。 一般说﹐化探分析应满足下列要求﹕能适应化探测量中采样介质的多变性﹔能十分可靠地测出有关元素的地球化学背景分布特征﹐由此准确计算背景与异常下限值所必需的检出限﹔能满足不同化探工作阶段的需要﹐如要满足小比例化探扫描及普查至大比例尺详查﹐对分析灵敏度﹑精密度和准确度以及元素测定的不同要求﹔能一次测定取得多种元素信息﹐以利于提高化探本身的综合性和解释推断﹔能够适应成千上万计的大批量化探样品分析﹐并能迅速及时地提交结果。X 射线荧光光谱仪﹐可以很高的分析精密度和准确度同时测定主﹑次和微量元素。