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配备 UHMI 的 Agilent 7900 ICP-MS 用于矿石参比物质中金属的超痕量

简介：地质调查和采矿业在样品数量、元素数量、时间/成本限制和复杂基质方面提出了高分析要求。根据元素和浓度的范围不同，一些样品需要分析两次：浓度较高的元素采用 ICP-OES（电感耦合等离子体发射光谱）分析，而痕量元素采用 ICP-MS 测量。对于这些样 详细>
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  • 上传人： 安捷伦科技(中国)
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