扫描透射电子显微镜

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扫描透射电子显微镜（Scanning Transmission Electron Microscope，STEM）是一种高性能电子显微镜，它可以提供比传统透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope，TEM）更高的分辨率和更强的成像能力。 STEM使用的是聚焦的电子束，通过样品进行透射和散射，然后依据样品产生的信号形成图像。与TEM不同的是，STEM采用了仅照射非常小面积的电子束，从而达到了比TEM更高的分辨率。并且STEM可以对样品进行扫描成像，得到样品的三维结构信息。 STEM广泛应用于物质科学、生物科学和工程学等领域。它可以用于研究复杂化合物的原子结构和微观结构，包括纳米级别的结构、材料的结晶态、晶界和缺陷等。此外，STEM还可用于制备纳米材料、检测材料性能等方面的研究开发。