非线性最小二乘法在复杂XPS谱图分析中的应用

讲师：李焕勇

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课程基本信息

课程类型：精品课
课程有效期：购买后24个月
课程节数：1节
课程分类：其他|其他

李焕勇

高级实验师，2010年入职暨南大学分析测试中心，现在主要负责单晶衍射、粉末衍射、光电子能谱、高分辨质谱、同位素质谱等仪器的维护、使用和培训工作，创办了“结构分析表征”、“光电子能谱分部”、“单晶多晶衍射分部”等自媒体账号，累计发布仪器操作、软件使用等相关的教程超过900个，关注人数超过12万人。

XPS是表征材料化学态的重要工具，是表面分析的常用技术，对于比较简单的谱图，直接采用合适的高斯/洛仑兹方量即可得到很好的拟合结果；对于过渡金属或者镧系元，只要知道峰型不对称的特点，拟合也不是难事。比较麻烦的一是存在重叠的谱图，比如常见的（Ca 2p和Mg LMM，Fe 2p和Co LMM,）；二是峰型比较复杂的谱图比如（Ce(IV)和Ce(III)，Cu LMM，Ti 2p）等，对于这些，NLS (Non-Linear Least-Squares Fit)非线性最小二乘法优势明显。这个课程将介绍NLS在复杂谱图分析中的应用。

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